x射线峰位测量检测费用

免费初检。因检测项目以及实验复杂程度不同，需联系工程师确定后进行报价。

检测时间：一般3-10个工作日（特殊样品除外）。有的项目可加急1.5天出报告。

x射线峰位测量检测报告用途

报告类型：电子报告、纸质报告(中文报告、英文报告、中英文报告)。

检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

x射线峰位测量检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照x射线峰位测量检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及x射线峰位测量的标准有176条。

国际标准分类中，x射线峰位测量涉及到分析化学、金属材料试验、无损检测、半导体材料、表面处理和镀涂、核能工程、光学设备、绝缘流体、水质、长度和角度测量、土质、土壤学、辐射防护、犯罪行为防范、辐射测量、词汇、有色金属、医疗设备、实验室医学、耐火材料、电工和电子试验、燃料、石油产品综合、摄影技术、质量、信息技术应用、电学、磁学、电和磁的测量、电子管、航空航天制造用材料。

在中国标准分类中，x射线峰位测量涉及到基础标准与通用方法、金属物理性能试验方法、基础标准与通用方法、半金属与半导体材料综合、材料防护、核仪器与核探测器综合、电子光学与其他物理光学仪器、化学、电工仪器、仪表综合、辐射防护仪器、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、重金属及其合金、重金属及其合金分析方法、电气设备与器具综合、实验室基础设备、低压电器综合、医用射线设备、基础标准与通用方法、燃料油、滚动轴承、辐射防护监测与评价、涂料、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、硅质耐火材料、电子元件综合、通用核仪器、基础标准与通用方法、石油产品综合、金属无损检验方法、物理学与力学、基础标准与通用方法、物性分析仪器、、程序语言、电真空器件综合、电容器、元素半导体材料。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线峰位测量的标准

GB/T 36053-2018X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告

GB/T 34612-2017蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法

国家质检总局，关于x射线峰位测量的标准

GB/T 25758.5-2010无损检测.工业X射线系统焦点特性.第5部分：小焦点和微焦点X射线管的有效焦点尺寸的测量方法

GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法

GB/T 24576-2009高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法

GB/T 16921-2005金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱法

GB/T 11685-2003半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

GB/T 17723-1999黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法

GB/T 16921-1997金属覆盖层厚度测量X射线光谱方法

GB/T 13388-1992硅片参考面结晶学取向X射线测量方法

美国材料与试验协会，关于x射线峰位测量的标准

ASTM D6502-10(2022)用X射线荧光（XRF）测量工艺水中低水平悬浮固体和离子固体的在线综合样品的标准试验方法

ASTM E915-21残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准实施规程

ASTM B568-98(2021)通过X射线光谱法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM E2860-20用于轴承钢的X射线衍射的残余应力测量的标准测试方法

ASTM E2119-20使用现场便携式X射线荧光（XRF）器件对涂料或其他涂料中铅含量进行原位测量的质量体系标准实践

ASTM E915-19残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准试验方法

ASTM E1426-14(2019)e1用X射线衍射技术测定残余应力测量用X射线弹性常数的标准试验方法

ASTM E2119-16采用现场便携式X射线荧光 (XRF) 设备对油漆或者其他涂料中铅含量进行原位测量的质量系统标准实施规程

ASTM E1426-14采用X射线衍射技术测定残余应力测量中使用的X射线弹性常数的标准试验方法

ASTM D7757-12通过单色波长色散X射线荧光分光分度计测量汽油及相关产品中硅的标准试验方法

ASTM E2860-12使用X射线衍射法测量轴承钢残余应力的标准试验方法

ASTM A754/A754M-11钢表面金属涂层重量(质量)X射线荧光测量的标准试验方法

ASTM E2120-10测量漆膜中铅含量用便携式X射线荧光光谱仪性能评估的标准操作规程

ASTM E2120-10(2016)用于涂料薄膜中铅含量测量的便携式X射线荧光分光计的性能评估标准实施规程

ASTM E915-10残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的标准试验方法

ASTM D6502-10(2015)利用X射线荧光 (XRF) 测量生产用水中低水平悬浮固体和离子固体即时整合样品的标准试验方法

ASTM D6502-08用X射线荧光（XRF）连续测量工艺水中低水平可过滤物质（悬浮固体）和不可过滤物质（离子固体）的在线复合样品的标准试验方法

ASTM D5059-07X射线分光光度法测量汽油中铅含量的标准试验方法

ASTM ISO/ASTM51431-05食品加工用电子束和X射线(韧制辐射)辐射设备剂量测量的标准实施规程

ASTM E2120-00涂料薄膜中铅含量测量用便携式X射线荧光光谱仪性能评估的标准实施规程

ASTM E2119-00用野外便携式X射线荧光设备现场测量涂料或其它覆层中铅含量用质量系统的标准规程

ASTM D6502-99(2003)用X射线荧光（XRF）在线测量水中低水平微粒和溶解金属的标准试验方法

ASTM D6502-99用X射线荧光（XRF）在线测量水中低水平微粒和溶解金属的标准试验方法

ASTM D5059-98(2003)e1X射线分光光度法测量汽油中铅含量的标准试验方法

ASTM D5059-98X射线分光光度法测量汽油中铅含量的标准试验方法

ASTM E1426-98(2003)残余应力X-射线缺陷测量效果弹性参数测定的试验方法

ASTM B568-98(2014)用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法

ASTM B568-98(2009)用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法

ASTM E915-96残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法

ASTM E915-96(2002)残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法

ASTM E1695-95(2006)e1计算机层析X射线摄影(CT)系统性能测量的标准试验方法

ASTM F847-94(1999)单晶硅片参考面结晶学取向X射线测量的标准试验方法

国际标准化组织，关于x射线峰位测量的标准

ISO 22581:2021表面化学分析X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息含碳化合物表面污染的识别和校正规则

ISO 14701:2018表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量

ISO 22489:2016微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

ISO 14701:2011表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量

ISO 21587-3:2007硅酸铝耐火材料的化学分析(可选择X射线荧光法).第3部分:感应耦合等离子体和原子吸收光谱测量法

ISO 22489:2006微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

ISO 3497:2000金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法

ISO 3497:1990金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法

ISO 3497:1976金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法

国际电工委员会，关于x射线峰位测量的标准

IEC 61010-2-091-2019用于测量 控制和实验室使用的电气设备的安全要求 - 第2-091部分:机柜X射线系统的特殊要求

IEC 61010-2-091:2019 RLV测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第2-091部分:柜式X射线系统的特殊要求

IEC 61010-2-091-2019 RLV测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第2-091部分:柜式X射线系统的特殊要求

IEC 62945:2018辐射防护仪器.测量X射线计算机断层扫描（CT）安检系统的成像性能

IEC 62945-2018辐射防护仪器.测量X射线计算机断层扫描（CT）安检系统的成像性能

IEC 62709-2014辐射防护仪器 - 人体安全检测 - 测量X射线系统的成像性能

IEC 62709:2014辐射防护仪器.人员的安全屏蔽.X射线系统成像性能的测量

IEC 61010-2-091-2012用于测量 控制和实验室使用的电气设备的安全要求 - 第2-091部分:机柜X射线系统的特殊要求

IEC 61010-2-091:2012测量、控制和实验室用电气设备的安全性要求.第2-091部分:柜式X射线系统详细要求

IEC 61526:2010辐射防护装置.X、γ、中子和β射线辐射个人剂量当量Hp(10)和Hp(0.07)的测量.直读式个人剂量当量计

IEC 61526:2005辐射防护仪表.X、γ、中子和β射线辐射个人剂量当量Hp(10)和Hp(0.07)的测量.直读式个人剂量当量计和监测器

英国标准学会，关于x射线峰位测量的标准

BS ISO 14701:2018表面化学分析. X射线光电子能谱学. 二氧化硅厚度测量

BS ISO 22489:2016微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析

BS IEC 62709:2014辐射防护仪器. 人员的安全屏蔽. X射线系统成像性能的测量

BS EN 61010-2-091-2012测量, 控制和实验室使用电气设备的安全要求. 柜式X射线系统的详细要求

BS ISO 14701:2011表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量

BS EN 61526-2007辐射防护仪器装置.X、γ、中子和β射线辐射个人剂量当量Hp(10)和Hp(0.07)的测量.直读式个人剂量当量计和监控器

BS ISO 22489:2007微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析

BS EN 14096-1-2003无损检验.X射线照相胶片数字化系统的质量鉴定.定义、成像质量参数的定量测量，标准参考胶片以及定性控制

BS EN 14096-1-2003 (2008)无损检验.X射线照相胶片数字化系统的质量鉴定.定义、成像质量参数的定量测量，标准参考胶片以及定性控制

BS EN ISO 3497:2001金属覆层.覆层厚度的测量.X射线光谱测定法

BS EN 12543-5-1999无损检验.无损检验用工业X射线系统的焦点特性.小型和微型聚焦X射线管有效焦点尺寸测量

BS 7518-1995辐射防护仪器.环境监测用测量X射线或γ射线的便携式、可移动或者固定安装的设备.集成组装

德国标准化学会，关于x射线峰位测量的标准

DIN EN 61010-2-091 Berichtigung 1-2016测量、控制和实验室用电器的安全性要求.第2-091部分:橱柜X射线系统用详细要求(IEC 61010-2-091-2012).德文版本EN 61010-2-091-2012;DIN EN 61010-2-091 (VDE 0411-2-091)-2013-01的勘误

DIN IEC 62709:2015辐射防护仪器.人员的安全屏蔽.X射线系统成像性能的测量(IEC 62709-2014)

DIN 51418-2-2015X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则

DIN EN 61526-2013辐射防护仪器装置.X、γ、中子和β射线辐射个人剂量当量H<指数p>(10)和H<指数p>(0.07)的测量.直读式个人剂量当量计(IEC 61526-2010,修订本).德文版本EN 61526-2013

DIN EN 61010-2-091-2013测量、控制和实验室用电器的安全性要求.第2-091部分:橱柜X射线系统用详细要求(IEC 61010-2-091-2012).德文版本EN 61010-2-091-2012

DIN EN 61526-2007辐射防护仪器装置.X、γ、中子和β射线辐射个人剂量当量H<指数p>(10)和H<指数p>(0.07)的测量.直读式个人剂量当量计和监控器(IEC 61526-2005的修正版)

DIN EN ISO 3497:2001金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法

DIN 51418-2 Bb.1-2000X射线光度法.X射线散射和X射线荧光分析(XRF).第2部分:定义和测量、校准及对结果评定的基本原理.附加信息和计算范例

DIN EN 13068-1-2000无损检验.X射线检查试验.第1部分:成像特性定量测量

DIN EN 12543-5-1999无损检测.无损检测用工业X射线系统焦点的特性.第5部分:*小和*大聚焦X射线电子管有效焦点尺寸测量

DIN 51418-2-1996X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则

DIN 50443-1-1988半导体工艺使用材料的检验.第1部分:用X射线外形测量法检测半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性

，关于x射线峰位测量的标准

PN J80010-1973X和γ射线的光度测量剂量装置．一般要求和测试方法

法国标准化协会，关于x射线峰位测量的标准

NF A08-701-1-2015铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第1部分:常规测量指南

NF C19-105-2013辐射防护装置.X、γ、中子和β射线辐射个人剂量当量Hp(10)和Hp(0.07)的测量.直读式个人剂量当量计

NF C42-020-2-091-2013测量, 控制和实验室使用电气设备的安全要求. 第2-091部分: 柜式X射线系统的详细要求

NF S92-502-2013医用生物实验室.人类辐射学.肺.能量小于200 keV的X-射线和α-射线发射器的测量

NF X21-006-2007微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析

NF A08-701-2-2006铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第2部分:常规测量

NF A08-701-1-2006铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第1部分:常规测量指南

NF X21-003-2006微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南

NF A09-252-1-2003无损检验.X射线照相胶片数字化系统的合格检验.第1部分:定义、图像质量参数的定量测量、标准参照胶片和定性控制

NF M60-512-3-2000校准剂量计和剂量率计及测量作为光子能量作用反应用X射线和伽玛射线的参考辐射.第3部分:范围及人员剂量计的校准和作为能量作用的反应和入射角度的测定

NF M60-512-2-2000校准剂量计和剂量率计及测量作为光子能量作用反应用X射线和伽玛射线的参考辐射．第2部分:对能量范围在8KeV-13MeV和4-9MeV的辐射防护的剂量测量法.

NF A09-230-2-2000无损试验.X射线电子管电压的测量和评价.第2部分:用厚滤膜法的稳定性检验

NF A09-231-5-1999无损检验.无损检验用工业X射线系统中焦点的特性.第5部分:*小和*大聚焦X射线电子管的有效焦点尺寸的测量

NF A09-230-3-1999无损检验.X射线电子管电压的测量和评价.第3部分:光谱测定法

NF A09-230-1-1999无损检验.X射线电子管电压的测量和评价.第1部分:分压器法

NF M60-512-1-1998校准剂量计和剂量率计及测量作为光子能量作用反应用X射线和伽玛射线的参考辐射

NF X11-683-1981液体内变高度重力沉积粉末颗粒分析.X射线吸收测量法

NF A91-116-1976金属镀层.厚度的测量.用X射线光谱术

美国保险商实验所，关于x射线峰位测量的标准

UL 61010-2-091-2014测量, 控制和实验室用电气设备的要求的UL安全标准. 第2-091部分: 机柜X射线系统的特殊要求 (第一版)

韩国标准，关于x射线峰位测量的标准

KS C IEC 61526:2012辐射防护装置.X、γ、中子和β射线辐射个人剂量当量Hp(10)和Hp(0.07)的测量.直读式个人剂量当量计

KS L ISO 21587-3:2012硅酸铝耐火材料的化学分析(可选择X射线荧光法).第3部分:感应耦合等离子体和原子吸收光谱测量法

KS D ISO 22489:2012微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

KS D ISO 3497:2002金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法

美国电气电子工程师学会，关于x射线峰位测量的标准

IEEE N42.47:2010X射线和伽马射线人身保安系统成像性能测量用美国国家标准

IEEE N 42.47:2010X射线和伽马射线人身保安系统成像性能测量用美国国家标准

IEEE/ANSI N 42.47:2010人类安检用X射线和γ射线系统图像性能测量的美国国家标准

美国国家标准学会，关于x射线峰位测量的标准

ANSI N42.47-2010人类安检用X射线和γ射线系统图像表征的测量

ANSI/ASTM D2622:2005用波长色散X-射线荧光光谱测量法检测石油产品中硫含量的试验方法

ANSI/ASTM E915:1996测量剩余应力用的X射线衍射仪验证方法

ANSI/EIA 503-A-1990直观电视显像管X射线辐射测量的推荐规程

ANSI/EIA 501-A-1990光栅扫描直观式数字显示阴极射线管X射线辐射测量的推荐规程

ANSI/EIA 500-A-1989发射阴极射线管X射线辐射测量的推荐规程

欧洲标准化委员会，关于x射线峰位测量的标准

EN ISO 21587-3:2007硅酸铝耐火材料的化学分析(可选择X射线荧光法).第3部分:感应耦合等离子体和原子吸收光谱测量法［代替:CEN ENV 955-4］

EN ISO 3497:2000金属覆盖层.镀层的厚度测量.X射线光谱法ISO 3497-2000

EN 12543-5-1999无损检验.用于无损检验的工业X射线系统中焦点的特性.第5部分:小型和微型聚焦X射线管有效焦点尺寸的测量

日本工业标准调查会，关于x射线峰位测量的标准

JIS Z4615-2007工业X-射线仪用有效焦点尺寸的测量

JIS K0131-1996X射线衍射计测量分析的通用规则

JIS Z4615-1993工业用X光射线仪有效焦点尺寸的测量

国家*用标准-总装备部，关于x射线峰位测量的标准

GJB 5814-2006*用电子器件X射线剂量增强效应测量方法

行业标准-中国金属协会，关于x射线峰位测量的标准

CSM 01 01 01 08-2006X-射线荧光光谱法测量结果 不确定度评定规范

美国机动车工程师协会，关于x射线峰位测量的标准

SAE HS 784-2003用X射线衍射测量SAE剩余应力

SAE J 784A-1971X射线衍射测量残余应力

美国机械工程师协会，关于x射线峰位测量的标准

ASME SEC V B SE-1165-2001用针孔成象法测量工业X射线管子件焦点的试验方法.ASTM E1165-92(R1996)

机械电子工业部，关于x射线峰位测量的标准

JB/T 5068-1991金属覆盖层厚度测量 X射线光谱法

美国电子元器件、组件及材料协会，关于x射线峰位测量的标准

ECA EIA-501-A-1990光栅扫描Direct-Vie数据显示阴极射线管X射线测量的推荐规范

ECA 501-A-1990Direct-View电视图像管X射线测量的推荐实践

欧洲电工标准化委员会，关于x射线峰位测量的标准

HD 512 S1-1989光电X射线图像增强器换算系数的测量

行业标准-电子，关于x射线峰位测量的标准

SJ 20147.1-1992银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法

SJ/T 11096-1996医用X射线电视设备测量方法

SJ/T 11094-1996医用X射线图像增强器电视系统性能参数及测量方法

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