中心厚度测量检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照中心厚度测量检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及中心厚度测量的标准有1003条。

国际标准分类中，中心厚度测量涉及到建筑材料、分析化学、光学和光学测量、轴承、表面处理和镀涂、化工设备、长度和角度测量、半导体材料、核能工程、文献成像象技术、电线和电缆、金属材料试验、橡胶和塑料制品、光学设备、绝缘流体、涂料和清漆、铺地非织物、增强塑料、皮革技术、纺织产品、绝缘材料、建筑物结构、无损检测、食品工业厂房和设备、光纤通信、木材加工技术、涂料涂覆工艺、包装材料和辅助物、纸和纸板、塑料、摄影技术、有色金属、纸制品、道路车辆装置、连续搬运设备、罐、听、管、磁性材料、词汇、粘合剂和胶粘产品、煤、燃料、金属矿、太阳能工程、石蜡、沥青材料和其他石油产品、电子元器件综合、建筑构件、采矿和挖掘、道路工程、纺织辅助材料、家具、航空航天用电气设备和系统、木基板材、采矿设备、黑色金属、铁合金、瓶、小罐、瓮、石油、石油产品和天然气储运设备、辐射测量、管道部件和管道、水果、蔬菜及其制品、建筑物的防护、航空航天制造用零部件、有关航空航天制造用镀涂和有关工艺、印制电路和印制电路板、齿轮及齿轮传动、纺织纤维、造船和海上构筑物综合、非金属矿。

在中国标准分类中，中心厚度测量涉及到绝热、吸声、轻质与防火材料、基础标准与通用方法、基础学科综合、滑动轴承、材料防护、工业技术玻璃、非金属化工机械设备、基础标准与通用方法、半金属与半导体材料综合、核燃料元件及其分析试验方法、图书馆、档案、文献与情报工作、电缆及其附件、半金属及半导体材料分析方法、金属化学性能试验方法、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、半导体分立器件综合、金属物理性能试验方法、金属理化性能试验方法综合、管路附件、金属无损检验方法、电工绝缘材料及其制品、其他食品加工机械、混凝土制品、建材产品综合、长度计量、光通信设备、超声波与声放射探伤仪器、涂料基础标准与通用方法、、发动机总体、包装方法、有色金属及其合金产品综合、专用材料及其制品、其他纺织制品、带绝缘层电线、人造板、基础标准与通用方法、塑料构配件、轻金属及其合金分析方法、输送机械、合成树脂、塑料、包装材料与容器、胶粘剂、屋面、铺面防水与防潮材料、太阳能、金属化学分析方法综合、涂料、连接器、安装、接线连接件、火工产品、加工工艺综合、、石油勘探、开发与集输工程综合、物理学与力学、地质矿产勘察与开发综合、公路工程、混凝土、集料、灰浆、砂浆、畜、禽产品、电子元器件、毯类、钢板、钢带、核材料、核燃料及其分析试验方法、陶瓷、玻璃综合、金属力学性能试验方法、皮革加工与制品综合、锻压、油、气集输设备、建筑构配件与设备综合、通用核仪器、建筑构造与装饰工程、轻金属及其合金、纤维增强复合材料、基础标准与通用方法、航空与航天用金属铸锻材料、电气系统与设备、家具综合、元素半导体材料、基础标准与通用方法、航空、航天材料基础标准、钢铁与铁合金分析方法、半金属、印制电路、化合物半导体材料、车身（驾驶室）及附件、电子、电气设备、胶管、胶带、胶布、量具与量仪、齿轮与齿轮传动、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、感光材料、缩微复印机械、放射性同位素应用仪器、热处理、船舶用材料及其检验方法、建材原料矿、颜料基础标准与通用方法。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于中心厚度测量的标准

GB/T 40414-2021浮筑地面用绝热制品厚度的测量

GB/T 40128-2021表面化学分析原子力显微术二硫化钼片层材料厚度测量方法

GB/T 40066-2021纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法

GB/T 7308.2-2021滑动轴承 有法兰或无法兰薄壁轴瓦第2部分:轴瓦壁厚和法兰厚度测量

未注明发布机构，关于中心厚度测量的标准

GB/T 38518-2020柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于中心厚度测量的标准

GB/T 36053-2018X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告

GB/T 33826-2017玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法

国家质检总局，关于中心厚度测量的标准

GB/T 31554-2015金属和非金属基体上非磁性金属覆盖层覆盖层厚度测量相敏涡流法

GB/T 31563-2015金属覆盖层厚度测量扫描电镜法

GB/T 7991.5-2014搪玻璃层试验方法 第5部分:用电磁法测量厚度

GB/T 31225-2014椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法

GB/T 11374-2012热喷涂涂层厚度的无损测量方法

GB/T 14847-2010重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法

GB/T 25451-2010重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法

GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法

GB/T 23285-2009缩微摄影技术.开窗卡增厚区厚度的测量方法

GB/T 2951.11-2008电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法.第11部分:通用试验方法.厚度和外形尺寸测量.机械性能试验

GB/T 8758-2006砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法

GB/T 4955-2005金属覆盖层覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法

GB/T 16921-2005金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱法

GB/T 20018-2005金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量 β射线背散射法

GB/T 8014.1-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法 第1部分;测量原则

GB/T 8014.3-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法 第3部分;分光束显微镜法

GB/T 8014.2-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法 第2部分;质量损失法

GB/T 11378-2005金属覆盖层覆盖层厚度测量 轮廓仪法

GB/T 6463-2005金属和其它无机覆盖层厚度测量方法评述

GB/T 6462-2005金属和氧化物覆盖层厚度测量 显微镜法

GB/T 4956-2003磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量 磁性法

GB/T 4957-2003非磁性基体金属上非导电覆盖层覆盖层厚度测量 涡流法

GB/T 7991-2003搪玻璃层厚度测量电磁法

GB/T 12334-2001金属和其他非有机覆盖层--关于厚度测量的定义和一般规则

GB/T 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法

GB/T 17722-1999金属盖层厚度的扫描电镜测量方法

GB/T 2951.1-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法第1部分;通用试验方法第1节: 厚度和外形尺寸测量--机械性能试验

GB/T 16921-1997金属覆盖层厚度测量X射线光谱方法

GB/T 4955-1997金属覆盖层覆盖层厚度测量阳极溶解库仑法

GB/T 14847-1993重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法

GB/T 13744-1992磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量

GB/T 11378-1989金属覆盖层厚度轮廓尺寸测量方法

GB/T 11374-1989热喷涂涂层厚度的无损测量方法

GB/T 8758-1988砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法

GB 8758-1988砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法

GB/T 8014-1987铝及铝合金阳极氧化阳极氧化膜厚度的定义和有关测量厚度的规定

GB/T 6463-1986金属和其它无机覆盖层厚度测量方法评述

GB/T 6462-1986金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法

美国材料与试验协会，关于中心厚度测量的标准

ASTM D4138-07a(2022)用破坏性横截面法测量保护涂层系统干膜厚度的标准实施规程

ASTM D6132-13(2022)使用超声波涂层测厚仪无损测量应用有机涂层干膜厚度的标准试验方法

ASTM F387-17(2022)测量有泡沫层的弹性地板覆盖物厚度的标准试验方法

ASTM C1383-15(2022)用冲击回波法测量混凝土板P波速度和厚度的标准试验方法

ASTM D7091-22黑色金属用非磁性涂层和有色金属用非磁性非导电涂层干膜厚度的无损测量

ASTM F16-12(2022)电子设备和灯具用金属丝和金属带直径或厚度测量的标准试验方法

ASTM C366/C366M-16(2022)e1测量夹层芯厚度的标准试验方法

ASTM B748-90(2021)用扫描电子显微镜测量横截面测量金属涂层厚度的标准试验方法

ASTM D1814-70(2021)测量皮革单位厚度的标准试验方法

ASTM D5994/D5994M-10(2021)测量有纹理土工膜芯厚度的标准试验方法

ASTM E797/E797M-21用手动超声波脉冲回波接触法测量厚度的标准实施规程

ASTM E252-06(2021)e1通过质量测量的箔 薄片和膜的厚度的标准测试方法

ASTM A1073/A1073M-21使用手动千分尺测量未涂覆钢板和非金属和金属涂层钢板厚度的标准做法

ASTM B530-09(2021)通过磁性方法测量涂层厚度的标准测试方法:磁性和非磁性基底上的电沉积镍涂层

ASTM B499-09(2021)e1通过磁性方法测量涂层厚度的标准测试方法:磁性基础金属上的非磁性涂层

ASTM B567-98(2021)通过Beta反向散射法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM B568-98(2021)通过X射线光谱法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM B568-1998(2021)使用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法

ASTM B530-2009(2021)磁性法测量涂层厚度的标准试验方法: 磁性和非磁性基底上电镀镍涂层

ASTM B567-1998(2021)使用β射线反向散射法测量镀层厚度的标准试验方法

ASTM B244-2009(2021)涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法

ASTM A1073/A1073M-2021利用手控测微器测量无镀层钢薄板和非金属与金属镀层钢薄板厚度的标准规程

ASTM B499-2009(2021)e1用磁性法测量磁性基底金属非磁性镀层厚度的标准试验方法

ASTM B659-1990(2021)测量金属涂层和无机涂层厚度的标准指南

ASTM B487-20通过横截面显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准测试方法

ASTM D8331/D8331M-20用加固光学干涉法用非破坏性方法测量薄膜涂层厚度的标准试验方法

ASTM D5796-20使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

ASTM D1005-95(2020)使用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准测试方法

ASTM D1212-91(2020)用于测量有机涂层湿膜厚度的标准测试方法

ASTM D4414-95(2020)通过槽口测量湿膜厚度的标准实践

ASTM E376-19用磁场或涡流（电磁）试验方法测量涂层厚度的标准实施规程

ASTM D7635/D7635M-18用于测量织物加强层涂层厚度的标准测试方法

ASTM B555-86(2018)通过跌落试验测量电沉积金属镀层厚度的标准指南

ASTM E1816-18用脉冲回波电磁声换能器（EMAT）方法测量厚度的标准实施规程

ASTM D6525/D6525M-18测量轧制侵蚀控制产品标称厚度的标准试验方法

ASTM D5235-18用于显微镜测量木制品上涂层干膜厚度的标准测试方法

ASTM D4138-07a(2017)通过破坏性横截面装置测量保护涂层系统的干膜厚度的标准实践

ASTM E376-17用磁场或涡流（电磁）试验方法测量涂层厚度的标准实施规程

ASTM F410-08(2017)用光学测量法测定弹性地板覆盖层磨损层厚度的标准试验方法

ASTM B504-90(2017)用库仑法测量金属镀层厚度的标准试验方法

ASTM D6525/D6525M-17测量轧制侵蚀控制产品标称厚度的标准试验方法

ASTM D6132-13(2017)使用超声波涂层厚度测量仪对应用的有机涂层的干膜厚度进行非破坏性测量的标准测试方法

ASTM F16-12(2017)用于测量电子设备和灯具的线和带的直径或厚度的标准测试方法

ASTM C174/C174M-17使用钻孔混凝土芯测量混凝土构件厚度的标准试验方法

ASTM A1073/A1073M-17使用手动千分尺测量未涂覆钢板和非金属和金属涂层钢板厚度的标准做法

ASTM C174/C174M-2017使用混凝土钻芯测量混凝土构件厚度的标准试验方法

ASTM D6525/D6525M-2017测量轧制防腐蚀产品公称厚度的标准试验方法

ASTM D7378-16用于测量涂覆粉末厚度以测量固化厚度的标准实践

ASTM B748-90(2016)通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法

ASTM D6525/D6525M-16测量轧制侵蚀控制产品标称厚度的标准试验方法

ASTM C174/C174M-16使用钻孔混凝土芯测量混凝土构件厚度的标准试验方法

ASTM A1073/A1073M-16使用手动千分尺测量未涂覆钢板和非金属和金属涂层钢板厚度的标准做法

ASTM C174/C174M-2016采用钻孔混凝土芯测量混凝土构件厚度的标准试验方法

ASTM A1073/A1073M-2016用于测量无涂层钢板和非金属和金属涂层钢板的厚度的手控测微器的使用的标准实施规程

ASTM C366/C366M-2016测量夹层芯材厚度的标准试验方法

ASTM E797/E797M-15手动超声波脉冲回波接触法测量厚度的标准实践

ASTM C1383-15使用冲击回波法测量混凝土板的P波速度和厚度的标准测试方法

ASTM D5796-10(2015)使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

ASTM D1814-70(2015)用于测量皮革单位厚度的标准测试方法

ASTM D5994/D5994M-10(2015)e1纹理土工膜厚度测量的标准测试方法

ASTM C1383-2015使用冲击-回声法测量混凝土板P-波速和厚度的标准试验方法

ASTM E797/E797M-2015用人工超声脉冲回波接触法测量厚度的标准实施规程

ASTM D5235-14用于显微镜测量木制品上涂层干膜厚度的标准测试方法

ASTM D6525/D6525M-14测量轧制侵蚀控制产品标称厚度的标准试验方法

ASTM B567-98(2014)通过Beta反向散射法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM B499-09(2014)通过磁性方法测量涂层厚度的标准测试方法:磁性基础金属上的非磁性涂层

ASTM B244-09(2014)使用涡流仪器测量铝和非磁性基础金属上其他非导电涂层的阳极涂层厚度的标准测试方法

ASTM B530-09(2014)通过磁性方法测量涂层厚度的标准测试方法:磁性和非磁性基底上的电沉积镍涂层

ASTM B568-98(2014)通过X射线光谱法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM A1073/A1073M-14用手测微计测量非金属和金属涂层钢板厚度的标准实施规程

ASTM D6525/D6525M-2014测量成卷冲刷防护产品公称厚度的标准试验方法

ASTM D5235-2014木制品的涂层干膜厚度显微镜测量的标准试验方法

ASTM F410-08(2013)用光学测量法测定弹性地板覆盖层磨损层厚度的标准试验方法

ASTM B487-85(2013)通过横截面显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准测试方法

ASTM B555-86(2013)通过跌落试验测量电沉积金属镀层厚度的标准指南

ASTM D6132-13使用超声波涂层厚度测量仪对应用的有机涂层的干膜厚度进行非破坏性测量的标准测试方法

ASTM D5235-13木制品上涂层干膜厚度的显微测量的标准试验方法

ASTM E252-06(2013)通过质量测量的箔 薄片和膜的厚度的标准测试方法

ASTM F2251-13柔性包装材料厚度测量的标准测试方法

ASTM D4138-07a(2013)通过破坏性横截面装置测量保护涂层系统的干膜厚度的标准实践

ASTM D1212-91(2013)用于测量有机涂层湿膜厚度的标准测试方法

ASTM D4414-95(2013)通过槽口测量湿膜厚度的标准实践

ASTM D1005-95(2013)使用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准测试方法

ASTM C174/C174M-13使用钻孔混凝土芯测量混凝土构件厚度的标准试验方法

ASTM D5235-2013木制品的涂层干膜厚度显微镜测量的标准试验方法

ASTM D7091-2013对应用于黑色金属的非磁性涂层以及应用于非黑色金属的非磁性, 不导电涂层的干膜厚度进行无损测量的标准实施规程

ASTM D1813-2013皮件试样厚度测量的标准试验方法

ASTM F2251-2013柔性包装材料厚度测量的标准试验方法

ASTM D7091-2013对应用于黑色金属的非磁性涂层以及应用于非黑色金属的非磁性, 不导电涂层的干膜厚度进行无损测量的标准实施规程

ASTM D6132-2013采用超声波涂层测厚仪对应用有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法

ASTM D6525-12测量轧制侵蚀控制产品标称厚度的标准试验方法

ASTM C174/C174M-12使用钻孔混凝土芯测量混凝土构件厚度的标准试验方法

ASTM B555-86(2012)通过跌落试验测量电沉积金属镀层厚度的标准指南

ASTM A1073/A1073M-12用手测微计测量非金属和金属涂层钢板厚度的标准实施规程

ASTM D5199-12测量土工合成材料标称厚度的标准试验方法

ASTM F16-12用于测量电子设备和灯具的线和带的直径或厚度的标准测试方法

ASTM D5199-2012测量土工合成物标称厚度的标准实验方法

ASTM D6525-2012测量成卷冲刷防护产品公称厚度的标准试验方法

ASTM D7091-2012应用于黑色金属的无磁涂层和应用于有色金属的无磁和不导电涂层的干膜厚度的无损测量的标准操作规程

ASTM F16-2012电子器件和电灯用电线及带条的直径或厚度测量的标准试验方法

ASTM B504-90(2011)用库仑法测量金属镀层厚度的标准试验方法

ASTM E376-11通过磁场或涡流（电磁）测试方法测量涂层厚度的标准实践

ASTM D5199-11测量土工合成材料标称厚度的标准试验方法

ASTM E376-2011用磁场或涡流(电磁的)试验法测量覆层厚度的标准操作规程

ASTM F387-2011带有泡沫层的弹性地板覆盖物厚度测量的标准试验方法

ASTM C1383-04(2010)使用冲击回波法测量混凝土板的P波速度和厚度的标准测试方法

ASTM D5796-10使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

ASTM D7378-10用于测量涂覆粉末厚度以测量固化厚度的标准实践

ASTM B748-90(2010)通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法

ASTM D1814-70(2010)用于测量皮革单位厚度的标准测试方法

ASTM D5994-10测量变形土工膜芯层厚度的标准试验方法

ASTM D5796-03(2010)使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

ASTM D7635/D7635M-10用于测量织物加强层涂层厚度的标准测试方法

ASTM E797/E797M-10手动超声波脉冲回波接触法测量厚度的标准实践

ASTM D5796-2010用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法

ASTM D5994-2010糙面土工膜的芯厚度测量的标准试验方法

ASTM D7378-2010测量所施涂的涂层粉的厚度以预测固化厚度的标准操作规程

ASTM B568-98(2009)通过X射线光谱法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM B567-98(2009a)通过Beta反向散射法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM B567-98(2009)通过Beta反向散射法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM B499-09通过磁性方法测量涂层厚度的标准测试方法:磁性基础金属上的非磁性涂层

ASTM B244-09使用涡流仪器测量铝和非磁性基础金属上其他非导电涂层的阳极涂层厚度的标准测试方法

ASTM B530-09通过磁性方法测量涂层厚度的标准测试方法:磁性和非磁性基底上的电沉积镍涂层

ASTM B244-2009涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法

ASTM B530-2009用磁性法测量磁性和非磁性基底上的电解沉积镀镍层厚度的标准试验方法

ASTM B499-2009用磁性法测量磁性基底金属的非磁性镀层厚度的标准试验方法

ASTM B244-2009(2014)涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法

ASTM B530-2009(2014)磁性法测量涂层厚度的标准试验方法:磁性和非磁性基底上电镀镍涂层

ASTM B499-2009(2014)用磁性法测量磁性基底金属非磁性镀层厚度的标准试验方法

ASTM D6132-08用超声波计无损测量应用有机涂层干膜厚度的标准试验方法

ASTM F2251-03(2008)柔性包装材料厚度测量的标准测试方法

ASTM F410-08用光学测量法测定弹性地板覆盖层磨损层厚度的标准试验方法

ASTM F410-2008(2013)采用光学测量法的弹性地板覆盖物磨损层厚度的标准试验方法

ASTM D6132-2008用超声波仪表对外施的有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法

ASTM F410-2008光学测量法对弹性地板覆盖物磨损层厚度的标准试验方法

ASTM D1005-95(2007)使用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准测试方法

ASTM D7378-07用于测量涂覆粉末厚度以测量固化厚度的标准实践

ASTM G12-07管道涂层钢的厚度无损测量的标准测试方法

ASTM D4138-07a通过破坏性横截面装置测量保护涂层系统的干膜厚度的标准实践

ASTM D1212-91(2007)e1用于测量有机涂层湿膜厚度的标准测试方法

ASTM D1212-91(2007)用于测量有机涂层湿膜厚度的标准测试方法

ASTM D4414-95(2007)通过槽口测量湿膜厚度的标准实践

ASTM B487-85(2007)通过横截面的显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准试验方法

ASTM B504-90(2007)用库仑法测量金属镀层厚度的标准试验方法

ASTM B555-86(2007)通过跌落试验测量电沉积金属镀层厚度的标准指南

ASTM D4138-07通过破坏性横截面装置测量保护涂层系统的干膜厚度的标准实践

ASTM G12-2007(2013)钢制管道涂层厚度无损测量的标准试验方法

ASTM G12-2007钢制管道涂层膜厚度的无损测量用标准试验方法

ASTM D7378-2007测量实用涂层粉末预固化厚度的标准实施规程

ASTM E376-06用磁场或涡流（电磁）检验方法测量涂层厚度的标准实施规程

ASTM D6525-00(2006)测量永久性轧制防蚀产品标称厚度的标准试验方法

ASTM D5199-01(2006)测量土工合成材料标称厚度的标准试验方法

ASTM E252-06通过质量测量的箔 薄片和膜的厚度的标准测试方法

ASTM B748-90(2006)通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法

ASTM B588-88(2006)用双光束干涉显微镜技术测量透明或不透明涂层厚度的标准试验方法

ASTM C174/C174M-06使用钻孔混凝土芯测量混凝土构件厚度的标准试验方法

ASTM F16-67(2006)用于测量电子设备和灯具的线和带的直径或厚度的标准测试方法

ASTM E376-2006用磁场或涡流(电磁的)检验法测量覆层厚度的标准实施规程

ASTM E252-2006质量测量法测定箔片、薄板和薄膜厚度的标准试验方法

ASTM E252-2006(2013)采用质量测量的箔片, 薄板和薄膜厚度的标准试验方法

ASTM E797-05手动超声波脉冲回波接触法测量厚度的标准实践

ASTM E252-05用质量测量法测定薄片和薄膜厚度的标准试验方法

ASTM D1814-70(2005)用于测量皮革单位厚度的标准测试方法

ASTM E797-2005用人工超声脉冲回波接触法测量厚度的标准实施规程

ASTM E252-2005质量测量法测定薄箔、薄板和薄膜厚度的标准试验方法

ASTM D7091-2005应用于黑色金属的无磁涂层和应用于有色金属的无磁和不导电涂层的干膜厚度的无损测量的标准实施规程

ASTM E252-04用质量测量法测定薄膜厚度的标准试验方法

ASTM D6132-04用超声波计无损测量应用有机涂层干膜厚度的标准试验方法

ASTM B568-98(2004)通过X射线光谱法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM C1383-04使用冲击回波法测量混凝土板的P波速度和厚度的标准测试方法

ASTM D6132-2004用超声波仪表对外施的有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法

ASTM E252-2004用质量测量法测定薄箔和薄膜厚度的标准试验方法

ASTM C1383-2004(2010)用冲击回波法测量混凝土板的P-波速度和厚度的标准试验方法

ASTM C1383-2004用冲击回声法测量P波速度和混凝土板的厚度的标准试验方法

ASTM B567-98(2003)通过Beta反向散射法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM F2251-03柔性包装材料厚度测量的标准测试方法

ASTM F2251-03e1柔性包装材料厚度测量的标准测试方法

ASTM D5796-03使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

ASTM E376-03用磁场或涡流（电磁）检验方法测量涂层厚度的标准实施规程

ASTM F2251-2003柔性包装材料厚度测量的标准试验方法

ASTM D5796-2003用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法

ASTM F2251-2003e1柔性包装材料厚度测量的标准试验方法

ASTM A770/A770M-2003(2007)专用钢板通过厚度测量进行的抗拉试验

ASTM E376-2003用磁场或涡流(电磁的)检验法测量覆层厚度的标准实施规程

ASTM A770/A770M-2003(2012)专用钢板通过厚度测量进行的抗拉试验

ASTM F2251-2003(2008)柔性包装材料厚度测量的标准试验方法

ASTM D5796-2003(2010)用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法

ASTM B530-02通过磁性方法测量涂层厚度的标准测试方法:磁性和非磁性基底上的电沉积镍涂层

ASTM F410-02用光学测量法测定弹性地板覆盖层磨损层厚度的标准试验方法

ASTM F410-95用光学测量法测定弹性地板覆盖层磨损层厚度的标准试验方法

ASTM F410-2002光学测量法对弹性地板覆盖物磨损层厚度的标准试验方法

ASTM B530-2002用磁性法测量磁性和非磁性基底上的电解沉积镀镍层厚度的标准试验方法

ASTM F387-2002(2008)带有泡沫层的弹性地板覆盖物厚度测量的标准试验方法

ASTM F387-2002有泡沫层的弹性地板覆盖物厚度测量的标准试验方法

ASTM E1182-93(1998)用径向剖切法测量表层厚度的标准试验方法

ASTM D1186-93铁基非磁性涂层干膜厚度的无损测量的标准试验方法

ASTM F576-00用椭圆偏振法测量硅衬底上绝缘体厚度和折射率的标准试验方法

ASTM D5199-01测量土工合成材料标称厚度的标准试验方法

ASTM E797-95(2001)手动超声波脉冲回波接触法测量厚度的标准实践

ASTM D1212-91(1996)e1用于测量有机涂层湿膜厚度的标准测试方法

ASTM D1005-95(2001)使用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准测试方法

ASTM D1212-91(2001)用于测量有机涂层湿膜厚度的标准测试方法

ASTM D4414-95(2001)通过槽口测量湿膜厚度的标准实践

ASTM D4138-94(1999)用破坏性方法测量保护涂层系统干膜厚度的标准试验方法

ASTM D4138-94(2001)e1用破坏性方法测量保护涂层系统干膜厚度的标准试验方法

ASTM E797-95手动超声波脉冲回波接触法测量厚度的标准实践

ASTM D4414-95通过槽口测量湿膜厚度的标准实践

ASTM D1005-95使用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准测试方法

ASTM D5199-2001测量土工织物和地膜标定厚度的标准试验方法

ASTM D5199-2001(2006)测量土工织物和地膜标定厚度的标准试验方法

ASTM D1400-94有色金属基底上非导电涂层干膜厚度的无损测量的标准试验方法

ASTM D1814-70(2000)用于测量皮革单位厚度的标准测试方法

ASTM D6525-00测量永久性轧制防蚀产品标称厚度的标准试验方法

ASTM F16-67(2000)用于测量电子设备和灯具的线和带的直径或厚度的标准测试方法

ASTM D1813-2000(2005)皮件试样厚度测量的标准试验方法

ASTM D6525-2000(2006)永久滚轧防腐蚀产品的标称厚度的测量的标准试验方法

ASTM D1813-2000皮件试样厚度测量的标准试验方法

ASTM D6525-2000永久滚轧防腐蚀产品的标称厚度的测量的标准试验方法

ASTM F576-2000用椭圆对称法测量硅衬底上绝缘体厚度及折射指数的标准试验方法

ASTM D1813-2000(2010)皮件试样厚度测量的标准试验方法

ASTM D5796-99使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

ASTM D4166-99用数字磁强度仪测量非磁性材料厚度的标准试验方法

ASTM D5796-1999用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法

ASTM D4166-1999(2004)e1用数字磁化强度测试仪测量非磁性材料厚度的标准试验方法

ASTM D4166-1999用数字磁化强度测试仪测量非磁性材料厚度的标准试验方法

ASTM C366-1999层压芯材厚度测量的标准试验方法

ASTM B568-98通过X射线光谱法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM C1383-98a使用冲击回波法测量混凝土板的P波速度和厚度的标准测试方法

ASTM B567-98通过Beta反向散射法测量涂层厚度的标准测试方法

ASTM D5994-98(2003)测量变形土工膜芯层厚度的标准试验方法

ASTM D5994-98测量变形土工膜芯层厚度的标准试验方法

ASTM D5994-1998织物状地幔测量芯厚度的标准试验方法

ASTM B568-1998(2009)用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法

ASTM B568-1998(2014)用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法

ASTM D5994-1998(2003)织物状地幔测量芯厚度的标准试验方法

ASTM C1383-1998a用冲击回声法测量P波速度和混凝土板的厚度的标准试验方法

ASTM B567-1998(2014)用β射线反向散射法测量镀层厚度的标准试验方法

ASTM B567-1998(2009a)用β射线反向散射法测量镀层厚度的标准试验方法

ASTM D6132-97用超声波计无损测量混凝土上有机涂层干膜厚度的标准试验方法

ASTM B244-97(2002)使用涡流仪器测量铝和非磁性基础金属上其他非导电涂层的阳极涂层厚度的标准测试方法

ASTM B244-97使用涡流仪器测量铝和非磁性基础金属上其他非导电涂层的阳极涂层厚度的标准测试方法

ASTM C174/C174M-97使用钻孔混凝土芯测量混凝土构件厚度的标准试验方法

ASTM B244-1997(2002)用涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法

ASTM D6132-1997用超声波仪表对混凝土有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法

ASTM B244-1997用涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法

ASTM D5235-1997在木制品上覆层干膜厚度显微镜测量的标准试验方法

ASTM E376-96用磁场或涡流（电磁）试验方法测量涂层厚度的标准实施规程

ASTM B499-96(2002)通过磁性方法测量涂层厚度的标准测试方法:磁性基础金属上的非磁性涂层

ASTM B499-96通过磁性方法测量涂层厚度的标准测试方法:磁性基础金属上的非磁性涂层

ASTM B530-96通过磁性方法测量涂层厚度的标准测试方法:磁性和非磁性基底上的电沉积镍涂层

ASTM D1777-1996(2002)测量纺织材料的厚度的标准试验方法

ASTM D1777-1996(2011)e1测量纺织材料的厚度标准试验方法

ASTM B499-1996用磁性法测量磁性基底金属的非磁性镀层厚度的标准试验方法

ASTM B499-1996(2002)用磁性法测量磁性基底金属的非磁性镀层厚度的标准试验方法

ASTM E376-1996用磁场或涡流(电磁的)试验法测量覆层厚度

ASTM B530-1996用磁性法测量磁性和非磁性基底上的电解沉积镀镍层厚度的标准试验方法

ASTM D1777-1996(2007)测量纺织材料的厚度的标准试验方法

ASTM D1005-1995(2007)用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准试验方法

ASTM D1005-1995(2013)使用千分尺测量有机涂层干膜厚度的标准试验方法

ASTM D1005-1995(2001)使用测微计测量有机涂层的干膜厚度的标准试验方法

ASTM F410-1995光学测量法对弹性地板覆盖物磨损层厚度的标准试验方法

ASTM E797-1995(2001)用人工超声脉冲回波接触法测量厚度的标准实施规程

ASTM F1530-94用自动非接触扫描法测量硅片平整度和厚度变化的标准试验方法

ASTM D1400-1994非铁金属基表面非传导涂层干膜厚度无损测量的标准试验方法

ASTM F1530-1994用自动无触点扫描法测量硅片平整度、厚度和厚度变化的标准试验方法

ASTM E1182-1993(1998)用径向切割法测量表层厚度的标准试验方法

ASTM F387-1993有泡沫层的弹性地板覆盖物厚度测量的标准试验方法

ASTM D1212-91有机涂层湿膜厚度测量的标准试验方法

ASTM D1212-1991(2013)有机涂层湿膜厚度测量的标准试验方法

ASTM D1212-1991(2007)e1有机涂层湿膜厚度测量的标准试验方法

ASTM B504-90(2002)用库仑法测量金属镀层厚度的标准试验方法

ASTM B504-90(1997)用库仑法测量金属镀层厚度的标准试验方法

ASTM B748-90(2001)通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法

ASTM B748-90(1997)通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法

ASTM B659-1990(2014)测量金属涂层和无机涂层厚度的标准指南

ASTM B556-1990(2013)用点滴试验法进行薄镀铬层厚度测量的标准指南

ASTM B556-1990(1997)用点滴试验法测量薄镀铬层厚度

ASTM B556-1990(2012)用点滴试验法进行薄镀铬层厚度测量的标准指南

ASTM B748-1990(2001)用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法

ASTM B659-1990(2003)金属和无机物镀层厚度的测量方法

ASTM B748-1990(2006)用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法

ASTM B659-1990(2008)e1金属和无机物镀层厚度的测量方法的标准指南

ASTM B504-1990(2017)用库仑法测量金属涂层厚度的标准试验方法

ASTM B748-1990(2010)扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的标准试验方法

ASTM B504-1990(2007)用库仑法测量金属镀层厚度的试验方法

ASTM B748-1990(1997)用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法

ASTM B748-1990(2016)通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法

ASTM B556-1990(2002)用点滴试验法测量薄镀铬层厚度

ASTM B504-1990(2002)用库仑法测量金属镀层厚度的试验方法

ASTM B556-1990(2007)用点滴试验法测量薄镀铬层厚度

ASTM B504-1990(1997)用库仑法测量金属镀层厚度的试验方法

ASTM B588-88(2001)用双光束干涉显微镜技术测量透明或不透明涂层厚度的标准试验方法

ASTM B588-88(1994)用双光束干涉显微镜技术测量透明或不透明涂层厚度的标准试验方法

ASTM B588-1988(2001)用双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的试验方法

ASTM B588-1988(2006)用双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的试验方法

ASTM B588-1988(1994)用双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的试验方法

ASTM B588-1988(2010)双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的标准试验方法

ASTM B555-86(1997)通过跌落试验测量电沉积金属涂层厚度的标准指南

ASTM B555-86(2002)通过跌落试验测量电沉积金属涂层厚度的标准指南

ASTM B555-1986(2002)用点滴试验法测量电解沉积金属镀层厚度的标准指南

ASTM B555-1986(1997)用点滴试验法测量电解沉积金属镀层厚度的标准指南

ASTM B555-1986(2012)用点滴试验法测量电解沉积金属镀层厚度的标准指南

ASTM B555-1986(2007)用点滴试验法测量电解沉积金属镀层厚度的标准指南

ASTM B555-1986(2013)用点滴试验法测量电解沉积金属镀层厚度的标准指南

ASTM B487-85(1997)通过横截面的显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准试验方法

ASTM B487-85(2002)通过横截面的显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准试验方法

ASTM D1814-1970(2005)测量皮件厚度的标准试验方法

ASTM D1814-1970(2010)测量皮件厚度的标准试验方法

ASTM D1814-1970(2015)测量皮革单元厚度的标准试验方法

ASTM F16-1967(2006)电子器件和电灯用电线及带条的直径或厚度测量方法

国际标准化组织，关于中心厚度测量的标准

ISO 9220-2022金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法

ISO 1463-2021金属和氧化物涂层 - 涂层厚度测量 - 显微镜法

ISO 1463:2021金属和氧化物涂层 - 涂层厚度测量 - 显微镜法

ISO 4518-2021金属涂层 - 涂层厚度测量 - 轮廓测量法

ISO 14571:2020非金属基材上的金属涂层.涂层厚度的测量.微电阻率法

ISO 16866-2020金属和其他无机涂层 - 多层镍沉积物中单个层的同时测量厚度和电极电位（STEP测试）

ISO 3548-2-2020滑动轴承 - 带或不带法兰的薄壁半轴承 - 第2部分:壁厚和法兰厚度的测量

ISO 21968-2019金属和非金属基材上的非磁性金属涂层 - 涂层厚度测量 - 相敏涡流法

ISO 14701:2018表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量

ISO 14701-2018表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量

ISO 16809-2017无损检测.超声波厚度测量

ISO 2360:2017非磁性导电基底金属上的非导电涂层 - 涂层厚度测量 - 幅度敏感型涡流法

ISO 2360-2017非磁性导电基体上非导体覆盖层.镀层厚度的测量.振幅灵敏性涡流法

ISO 2178:2016磁性基板上的非磁性涂层 - 涂层厚度的测量 - 磁性方法

ISO 2178-2016磁性基体上的非磁性覆盖层.覆盖层厚度的测量.磁性法

ISO 16809-2012无损检测.超声波厚度测量

ISO 4386-1-2012滑动轴承.多层金属滑动轴承.第1部分:测量厚度小于等于0,5 mm结合强度超声波无损检验

ISO 19840-2012涂料和清漆.用防护漆系统对钢结构的腐蚀防护.粗糙表面上干膜厚度的测量和验收标准

ISO 19840:2012色漆和清漆——通过防护涂料系统对钢结构的腐蚀防护——粗糙表面干膜厚度的测量和验收标准

ISO 14701:2011表面化学分析——X射线光电子能谱；氧化硅厚度的测量

ISO 14701-2011表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量

ISO 3548-2:2009滑动轴承 - 带或不带法兰的薄壁半轴承 - 第2部分:壁厚和法兰厚度的测量

ISO 3548-2-2009滑动轴承.有或没有法兰的薄壁半轴承.第2部分:壁厚度和法兰厚度的测量

ISO 6443:2005门扇——高度、宽度、厚度和垂直度的测量方法

ISO 21968:2005金属和非金属基材上的非磁性金属涂层——涂层厚度的测量——相敏涡流法

ISO 21968-2005金属和非金属基材的非磁性金属覆层.覆层厚度测量.相敏涡流法

ISO 19840:2004色漆和清漆.防护漆系统对钢结构的腐蚀防护.粗糙表面干膜厚度的测量和验收标准

ISO 19840-2004色漆和清漆.用防护漆系统对钢结构的腐蚀防护.粗面上干膜厚度的测量和验收标准

ISO 3543 Technical Corrigendum 1-2003金属和非金属覆层.厚度测量.β射线背散射法.技术勘误1

ISO 2360:2003非磁性导电基材上的非导电涂层——涂层厚度的测量——振幅敏感涡流法

ISO 2360-2003非磁性导电基体上非导体覆盖层.镀层厚度的测量.振幅灵敏性涡流法

ISO 6342:2003缩微摄影技术.孔径卡.堆积区厚度的测量方法

ISO 6342-2003缩微摄影技术.开窗卡.增厚区厚度的测量方法

ISO 3882:2003金属和其他无机涂层——厚度测量方法综述

ISO 3882-2003金属和其他无机物覆层.厚度测量方法述评

ISO 2177:2003金属涂层——涂层厚度的测量——阳极溶解库仑法

ISO 1463:2003金属和氧化物涂层——涂层厚度的测量——显微镜法

ISO 2177-2003金属覆盖层.覆盖层厚度的测量.阳极溶解库仑法

ISO 3543:2000金属和非金属涂层——厚度测量——β背散射法

ISO 3497:2000金属涂层——涂层厚度的测量——X射线光谱测定法

ISO 3497-2000金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法

ISO 3543-2000金属和非金属覆盖层 厚度测量 β射线背散射法

ISO 2064:1996金属和其他无机涂层——关于厚度测量的定义和惯例

ISO 2064-1996金属和其他无机覆盖层 厚度测量的定义和一般要求

ISO 6342:1993缩微摄影技术.孔径卡.堆积区厚度的测量方法

ISO 6342-1993缩微摄影技术 开窗卡 增厚区厚度的测量方法

ISO 10834-1992铺地织物 底布上绒头厚度的无损测量 WRONZ量规法

ISO 3497:1990金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法

ISO 583:1990带织物骨架的传送带.总厚度和覆盖层厚度的公差.直接测量法

ISO 3497-1990金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法

ISO 583-1990带纺织带芯的输送机皮带.总厚度和包覆层厚度的公差.直接测量法

ISO 7590-1990钢丝绳芯输送带.盖厚度测量

ISO 9220-1988金属覆盖层 镀层厚度测量 扫描电子显微镜法

ISO 9220:1988金属涂层——涂层厚度的测量——扫描电镜法

ISO 7590-1988钢丝绳芯输送带.盖厚度测量

ISO 3882-1986金属和其他无机覆盖层 厚度测量方法评述

ISO 3882:1986金属和其他无机涂层.厚度测量方法综述

ISO 2177:1985金属涂层.涂层厚度的测量.阳极溶解库仑法

ISO 2177-1985金属镀层.镀层厚度的测量.阳极分解的电量计法

ISO 4522-1-1985金属覆盖层.银和银合金电镀层的试验方法.第1部分:镀层厚度的测量

ISO 4524-1-1985金属覆盖层 金和金合金电镀层的试验方法 第1部分:镀层厚度的测量

ISO 2178:1982磁性基底上的非磁性涂层——涂层厚度的测量——磁法

ISO 2360:1982非磁性基底金属上的非导电涂层.涂层厚度的测量.涡流法

ISO 2361:1982磁性和非磁性基底上的电沉积镍涂层——涂层厚度的测量——磁法

ISO 2360-1982非磁性基体上非导体覆盖层 镀层厚度的测量 涡流法

ISO 2361-1982磁性和非磁性基体上的镍电镀层 镀层厚度的测量 磁性法

ISO 2178-1982磁性基体上的非磁性覆盖层 覆盖层厚度的测量 磁性法

ISO 1463:1982金属和氧化物涂层.涂层厚度的测量.显微镜法

ISO 3543:1981金属和非金属涂层.厚度测量.β背散射法

ISO 3543-1981金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法

ISO 4518:1980金属涂层——涂层厚度的测量——轮廓测量法

ISO 2064:1980金属和其他无机涂层.关于厚度测量的定义和惯例

ISO 2064-1980金属镀层和其它无机物涂层.有关厚度测量的定义

ISO 4518-1980金属覆盖层 厚度测量 轮廓仪法

ISO 5972:1978云母块、薄片、薄膜和裂片.厚度测量

ISO 2128:1976铝及其合金的阳极氧化.阳极氧化膜厚度的测定.分束显微镜无损测量

ISO 3868:1976金属和其他非有机涂层——涂层厚度的测量——菲索多光束干涉法

ISO 3882-1976金属和其他无机涂层.厚度测量方法综述

ISO 3868-1976金属和其他无机覆盖层 镀层厚度的测量 裴索多光束干涉仪法

ISO 3497-1976金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法

ISO 2589:1972皮革.物理试验.厚度测量

ISO 2177-1972金属涂层.涂层厚度的测量.阳极溶解库仑法

，关于中心厚度测量的标准

VSM 18653.1-1965铝及铝合金阳极氧化．阳极氧化膜厚度的测定．用分束显微镜作无损测量

VSM 33713.1-1972纺织物厚度的测量

VSM 34130-1934铝及铝合金阳极氧化．阳极氧化膜厚度的测定．用分束显微镜作无损测量

法国标准化协会，关于中心厚度测量的标准

NF A91-110-2021金属和氧化物镀层. 镀层厚度的测量. 显微镜法

NF C32-011-201-2012电缆和光缆. 非金属材料的试验方法. 第201部分: 通用试验. 绝缘厚度测量

NF C32-011-202-2012电缆和光缆.非金属材料试验方法.第202部分:通用试验.非金属护套厚度的测量

NF A09-345-2011无损试验.超声波厚度测量.

NF A91-481-2010铝和铝合金阳极氧化.阳极氧化物镀层厚度的测定.分光显微镜的无损测量.

NF X41-026-2008自粘结胶带.厚度测量.

NF A09-324-2007无损检测.超声波测试.超声波厚度测量设备的特征和验证

NF A91-139-2-2006覆层厚度测量和表面波纹表征.第2部分:光热法测量覆层厚度

NF A91-139-1-2006涂层厚度测量和有表面波的表面特性化.第1部分:采用激光感应表面声波法对各膜层的弹性常数、密度和厚度的测定指南

NF A91-321-2005金属和非金属基材的非磁性金属覆层.覆层厚度测量.相敏涡流法

NF A91-127-2005非金属基底材料金属涂层.涂层厚度测量.微电阻率法

NF A91-111-2004金属覆盖层.覆盖层厚度的测量.阳极溶解库仑法

NF A91-110-2004金属和氧化物镀层.镀层厚度的测量.显微镜法

NF A91-113-2004非磁性导电材料上的非导体覆盖层.镀层厚度的测量.振幅灵敏性涡流法

NF D90-229-1-2003只填充有羽毛和羽绒的制成品.垫子厚度和可压缩性的测量.第1部分:旋转试验方法

NF D90-229-2-2003只填充有羽毛和羽绒的成品.垫子厚度和可压缩性的测量.第2部分:摆动试验方法

NF A91-109-2003金属和其它无机物镀层.厚度测量方法述评

NF L54-002-078-2002航空航天系列.电气及光学连接元件.试验方法.第508部分:触点涂层厚度的测量

NF C32-024/A1-2001电缆和光缆的绝缘和护套材料.通用检验方法.第1-1部分:一般应用.厚度和总体尺寸测量.机械性能测定的试验

NF A91-206-2001金属和非金属覆层.厚度的测量.β反向散射法

NF A91-104-2000金属和其它无机物镀层.有关厚度测量的定义和惯例

NF P20-512-1999门活页.高度、宽度、厚度、矩形面积的测量方法

NF A91-455-3-1999铝和铝合金.阳极化.第3部分:阳极氧化层厚度的测定.用分裂束显微镜的无损测量

NF C32-024-1996电缆绝缘和护套材料.通用试验方法.第1部分:一般应用.第1节:厚度和总体尺寸测量.机械性能测定试验

NF P98-205-1-1996路面试验.霜影响测量.第1部分:使用显色指示剂测定霜的厚度

NF A91-120-1995磁性和非磁性基体的镍电积镀层.镀层厚度的测量.磁性法

NF A91-113-1995非磁性基体金属上的不导电镀层.镀层厚度的测量.涡流法

NF A91-114-1995金属镀层.镀层厚度的测量.表面光度仪法

NF A91-112-1995磁性基体的非磁性镀层.镀层厚度的测量.磁性法

NF A91-117-1995金属和其他无机物涂层.涂层厚度的测量.菲索(Fizeau)多光束干涉仪法

NF A91-108-1995金属镀层.镀层厚度的测量.扫描电子显微镜法

NF A91-115-1995金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法

NF A91-109-1995金属和其他无机物涂层.厚度测量方法述评

NF A91-111-1995金属镀层.镀层厚度的测量.阳极分解的电量计法

NF A91-104-1995金属镀层和其它无机物涂层.有关厚度测量的定义和常规

NF L10-214-1994航空航天系列.干膜润滑剂的试验方法.厚度测量

NF T30-124-1991涂料和清漆 .干性薄膜厚度测量.磁通量无损测量法

NF T47-100-2-1988传送带.涂层厚度和总厚度的公差.纺织基体传送带的测量方法

NF T47-100-3-1988钢丝芯线传送带.包覆层厚度测量

NF G07-108-1986纺织品.织物试验.通过样品厚度和质量的测量测定材料的保暖性

NF B20-101-1983矿物纤维基绝缘产品.矿毡、垫子和矿棉板.厚度的常规测量

NF J17-505-1982造船工业.船用涂料.金属基体上涂层厚度的无损现场测量.要求

NF A91-402-1981金属表面处理.铝和铝合金的阳极化.厚度测量

NF A91-116-1976金属镀层.厚度的测量.用X射线光谱术

NF T30-121-1974涂料.干性薄膜厚度的测定.千分尺测量法

NF A91-404-1966金属表面处理.铝和铝合金的阳极处理.(阳极氧化).厚度的测量

英国标准学会，关于中心厚度测量的标准

BS ISO 14701-2018表面化学分析. X射线光电子能谱学. 二氧化硅厚度测量

BS EN ISO 2360-2017非磁性导电基体上非导体覆盖层.镀层厚度的测量.振幅灵敏性涡流法

BS EN ISO 2178-2016磁性基体的非磁性覆层.覆层厚度的测量.磁性法

BS EN 60811-201-2012电缆和光缆. 非金属材料的试验方法. 通用试验. 绝缘厚度测量

BS EN 60811-202-2012电缆和纤维光缆.非金属材料检测方法.通用测试.非金属材料外壳厚度测量

BS ISO 3034-2011波纹纤维板.单板厚度的测量

BS ISO 3034-2011波纹纤维板.单板厚度的测量

BS ISO 14701-2011表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量

BS ISO 14701-2011表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量

BS EN 14127-2011无损检测.超声波厚度测量

BS ISO 3548-2-2009滑动轴承.带或不带法兰的薄壁轴瓦.法兰厚度和壁厚的测量

BS EN 13048-2009包装.铝软管.内部喷漆膜厚度测量方法

BS EN 1942-2008自胶粘带.厚度测量

BS EN 15317-2007无损检测.超声波测试.超声波厚度测量装置的特性描述和验证

BS EN 15042-1-2006覆层厚度测量和表面波纹表征.使用激光感应表面声波法测定薄膜的弹性常数,密度和厚度用指南

BS EN 15042-2-2006带表面波的表面涂覆层和特性的厚度测量.使用光热方法进行涂覆层的厚度测量用指南

BS EN ISO 21968-2005金属和非金属基材的非磁性金属覆层.覆层厚度测量.相敏涡流法

BS EN ISO 2177-2005金属覆层.覆层厚度的测量.阳极溶解库仑法

BS EN 14571-2005非金属基底材料上的金属覆层.覆层厚度的测量.微电阻率法

BS EN 14127-2004无损检验.超声波厚度测量

BS EN ISO 2360-2003非磁性电导基体金属上的非导体镀层.镀层厚度的测量.波幅灵敏涡流法

BS EN 13863-1-2003混凝土路面.用测量法测定混凝土路面厚度的试验方法

BS EN 1942-2003自胶粘带.厚度测量

BS EN ISO 3882-2003金属和其他无机物覆层.厚度测量方法述评

BS EN 13855-1-2003只填充羽毛和羽绒的制品.垫子厚度和可压缩性的测量.旋转测试法

BS EN 13855-2-2003只填充羽毛和羽绒的制品.垫子厚度和压缩系数的测量.摆动测试法

BS EN 2591-508-2002电气和光学连接元件.试验方法.触点涂层厚度的测量

BS EN ISO 3543-2001金属和非金属覆层.厚度测量. β射线背散射法

BS EN ISO 3497-2001金属覆层.覆层厚度的测量.X射线光谱测定法

BS EN ISO 2064-2000金属和其他无机物覆层.有关厚度测量的定义和一般要求

BS EN 951-1999门活页.高度,宽度,厚度和面积的测量方法

BS IEC 61336-1998核仪器装置.利用电离辐射的厚度测量系统.定义和试验方法

BS EN 60811-1-1-1995电缆绝缘和护套材料.通用试验方法.一般应用.厚度和总尺寸测量.机械性能测定试验

BS EN ISO 3868-1995金属和其他无机物涂层.涂层厚度测量.菲索(Fizeau)多光束干涉仪法

BS EN 3032-1994干膜润滑剂试验方法.厚度测量

BS 3424-25-1993涂覆织物试验方法.方法25:涂层厚度和任一扩展层厚度测量方法

BS EN ISO 9220-1989金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法

BS EN ISO 2178-1984磁性基体的非磁性覆层.覆层厚度的测量.磁性法

BS EN ISO 2361-1984磁性和非磁性基体的镍电镀层.镀层厚度的测量.磁性法

BS 6286-1982钢表面淬火薄层的总厚度或实际厚度测量方法

BS EN ISO 4518-1980金属覆层.覆层厚度的测量.轮廓仪法

BS 5806-1979云母块、薄片、薄膜和碎片的厚度测量法

BS M 40-1972用无损试验法测量涂层厚度的方法

日本工业标准调查会，关于中心厚度测量的标准

JIS B1585-2-2017滑动轴承. 带法兰或不带法兰的薄壁半轴承. 第2部分:壁厚和法兰厚度的测量

JIS C3660-1-1-2003电缆和光缆的绝缘和铠装材料的通用试验方法.第1-1部分:一般应用方法.厚度和总尺寸的测量.机械性能测定试验

JIS H8401-1999喷镀覆层的厚度测量方法

JIS H8680-3-1998铝和铝合金的阳极氧化膜厚度试验方法.第3部分:用分光束显微镜的无损测量

JIS C3660-1-1-1998电缆绝缘和铠装材料的通用试验方法.第1部分:一般应用方法.第1节:厚度和总尺寸的测量.机械性能测定试验

JIS H0611-1994硅片厚度、厚度变化及弯曲的测量方法

国际电工委员会，关于中心厚度测量的标准

IEC 60811-201:2012+AMD1:2017 CSV电缆和光缆.非金属材料的试验方法.第201部分:一般试验.绝缘厚度的测量

IEC 60811-202:2012+AMD1:2017 CSV电缆和光缆.非金属材料的试验方法.第202部分:一般试验.非金属护套厚度的测量

IEC 60811-202-2012+AMD1-2017 CSV电缆和光缆.非金属材料的试验方法.第202部分:一般试验.非金属护套厚度的测量

IEC 60811-201-2012+AMD1-2017 CSV电缆和光缆.非金属材料的试验方法.第201部分:一般试验.绝缘厚度的测量

IEC 60811-202:2012/AMD1:2017修改件1.电缆和光缆.非金属材料的试验方法.第202部分:一般试验.非金属护套厚度的测量

IEC 60811-201:2012/AMD1:2017修改件1.电缆和光缆.非金属材料的试验方法.第201部分:一般试验.绝缘厚度的测量

IEC 60811-201-2012/AMD1-2017修改件1.电缆和光缆.非金属材料的试验方法.第201部分:一般试验.绝缘厚度的测量

IEC 60811-202-2012/AMD1-2017修改件1.电缆和光缆.非金属材料的试验方法.第202部分:一般试验.非金属护套厚度的测量

IEC 60811-201 AMD 1-2017电缆和光缆.非金属材料试验方法.第201部分:通用试验.绝缘厚度测量.修改件1

IEC 60811-202 AMD 1-2017电缆和光缆.非金属材料试验方法.第202部分:通用测试.非金属护套厚度的测量.修改件1

IEC 60811-202 Edition 1.1-2017电缆和光缆.非金属材料试验方法.第202部分:通用测试.非金属护套厚度的测量

IEC 60811-201 Edition 1.1-2017电缆和光缆.非金属材料试验方法.第201部分:通用试验.绝缘厚度测量

IEC 60811-202 Edition 1.1-2017电缆和光缆.非金属材料试验方法.第202部分:通用测试.非金属护套厚度的测量

IEC 60811-202 AMD 1-2017电缆和光缆.非金属材料试验方法.第202部分:通用测试.非金属护套厚度的测量.修改件1

IEC 60811-201 AMD 1-2017电缆和光缆.非金属材料试验方法.第201部分:通用试验.绝缘厚度测量.修改件1

IEC 60811-201 Edition 1.1-2017电缆和光缆.非金属材料试验方法.第201部分:通用试验.绝缘厚度测量

IEC 60811-201:2012电光纤电缆 - 非金属材料测试方法 - 第201部分:一般测试 - 绝缘厚度测量

IEC 60811-202:2012电光纤电缆 - 非金属材料测试方法 - 第202部分:一般测试 - 非金属护套厚度的测量

IEC 60811-201-2012电缆和光缆.非金属材料试验方法.第201部分:通用试验.绝缘厚度测量

IEC 60811-202-2012电缆和光缆.非金属材料试验方法.第202部分:通用测试.非金属护套厚度的测量

IEC 60811-1-1 Edition 2.1-2001电缆和光缆的绝缘和护套材料通用试验方法.第1-1部分:一般应用方法.厚度和总尺寸的测量.机械性能测定试验

IEC 60811-1-1 AMD 1-2001电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第1节:厚度和外形尺寸的测量 机械性能测定试验修改1

IEC 61336:1996核仪器.厚度测量系统电离辐射.定义和试验方法

IEC 61336-1996核仪器 利用电离辐射的厚度测量系统 定义和试验方法

IEC 60811-1-1-1993电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第1节:厚度和外形尺寸的测量 机械性能测定试验

IEC 60811-1-1-1985电缆绝缘和护套材料通用试验方法.第1部分:一般应用方法.第1节:厚度和总尺寸的测量.机械性能测定试验

IEC 60769-1983厚度测量用带模拟或数字信号处理的电离辐射测量系统

工业和信息化部/国家能源局，关于中心厚度测量的标准

JB/T 13266-2017猪胴体背膘厚度测量装置

德国标准化学会，关于中心厚度测量的标准

DIN EN ISO 2178-2016磁性基质上的非磁性镀层.镀层厚度的测量.磁性法 (ISO 2178-2016).德文版本EN ISO 2178-2016

DIN ISO 4386-1-2015滑动轴承.多层金属滑动轴承.第1部分:测量厚度小于等于0,5 mm结合强度超声波无损检验(ISO 4386-1-2012)

DIN 50933-2015涂层厚度的测量. 采用触针式仪器的差值测量对涂层厚度的测量

DIN 58141-4-2014光纤元件的测量. 第4部分: 光纤直径和厚度的测定; 德文和英文文本

DIN EN 15317-2014无损检测. 超声波检测. 超声波厚度测量装置的特性描述和验证; 德文版本EN 15317-2013

DIN EN 60811-202-2012电缆和光缆.非金属材料试验方法.第202部分:通用试验.非金属护套厚度的测量(IEC 60811-202-2012).德文版本EN 60811-202-2012

DIN EN 60811-201-2012电缆和光缆.非金属材料试验方法.第201部分:通用试验.绝缘厚度测量(IEC 60811-201-2012).德文版本EN 60811-201-2012

DIN EN 14127-2011无损检验.超声波测量厚度.德文版本EN 14127-2011

DIN EN ISO 7590-2010钢丝输送带.总厚度和涂层厚度的测量方法

DIN EN ISO 7590-2010钢丝输送带.总厚度和涂层厚度的测量方法

DIN EN 13048-2009包装.铝软管.内部清漆薄膜厚度测量方法.英文版本DIN EN 13048-2009-08

DIN EN 1942-2008自粘结胶带.厚度的测量

DIN V VDE V 0126-18-2-2-2007太阳能硅片.第2-2部分:硅片几何尺寸的测量.厚度的变化

DIN V VDE V 0126-18-2-1-2007太阳能硅片.第2-1部分:硅片几何尺寸的测量.硅片厚度

DIN EN 15317-2007无损测试.超声波测试.超声波厚度测量设备的特征和验证

DIN EN ISO 3543 Berichtigung 1-2006金属和其他无机物覆层.厚度测量.β背反射法(ISO 3543:2000).勘误到DIN EN ISO 3543:2001-12

DIN EN ISO 3543 Corrigendum 1-2006金属涂料及其他无机涂料. 厚度测量. 贝特反向散射法（ISO 3542: 2000）;英文版本DIN EN ISO 3542: 2001-12勘误表1

DIN EN 15042-1-2006涂层厚度测量和有表面波的表面特性化.第1部分:采用激光感应表面声波法对各膜层的弹性常数、密度和厚度的测定指南

DIN EN 15042-2-2006覆层厚度测量和表面波纹表征.第2部分:光热法测量覆层厚度

DIN 50977-2005测量覆层厚度.连续运动物体上覆层厚度的非接触测量

DIN EN ISO 21968-2005金属和非金属基材的非磁性金属涂层.涂层厚度测量.相敏涡流法

DIN EN 14571-2005非金属基底材料上的金属覆层.测量覆层厚度.微电阻率法

DIN EN ISO 2177-2004金属覆层.覆层厚度的测量.阳极溶解库仑法

DIN 21918-2-2004矿山测量平面图.矿床.第2部分:厚度

DIN EN ISO 2360-2004非磁性导电基体上非导体覆盖层.镀层厚度的测量.振幅灵敏性涡流法

PAS 1022-2004检测材料及介电材料性质以及用椭偏仪测量薄膜层厚度的参考程序

DIN EN 13863-1-2004混凝土路面.第1部分:用测量法测定混凝土路面厚度的试验方法

DIN EN ISO 3882-2003金属和其他无机物覆层.厚度测量方法述评

DIN EN 13855-2-2003只填充有羽毛和羽绒的制成品.垫子厚度和压缩系数的测量.第2部分:摆动试验方法

DIN EN 13855-1-2003只填充有羽毛和羽绒的制成品.垫子厚度和压缩系数的测量.第1部分:旋转试验方法

DIN EN 2591-508-2003航空航天系列.光电连接元件.试验方法.第508部分:触点涂层厚度测量

DIN EN ISO 3543-2001金属和非金属涂层.镀层厚度测量.β射线反向散射法

DIN EN ISO 3497-2001金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法

DIN EN ISO 2064-2000金属和其他无机物覆层.厚度测量的定义和一般要求

DIN IEC 61336-1999核测量仪器.使用电离辐射的厚度测量系统.定义和试验方法

DIN EN 12373-3-1999铝和铝合金.阳极处理.第3部分:阳极的氧化涂层厚度的测定.用裂隙梁显微镜进行无损测量

DIN ISO 12306-1998关节轴承.薄壁半轴承和薄壁轴承衬的壁厚度的测量

DIN 50441-1-1996半导体工艺材料试验.半导体片几何尺寸测量.第1部分:厚度和厚度变化

DIN EN ISO 4518-1995金属镀层.镀层厚度的测量.外形测定法 (ISO 4518:1980); 德文版本 EN ISO 4518:1995

DIN EN ISO 2361-1995磁性和非磁性基质的镍电镀层.镀层厚度的测量.磁性法 (ISO 2361:1982); 德文版本 EN ISO 2361:1995

DIN EN ISO 2178-1995磁性基质上的非磁性镀层.镀层厚度的测量.磁性法 (ISO 2178:1982); 德文版本 EN ISO 2178:1995

DIN EN ISO 9220-1995金属镀层.镀层厚度测量.电子扫描显微镜法 (ISO 9220:1988); 德文版本 EN ISO 9220:1994

DIN EN ISO 3868-1995金属镀层和其它无机物涂层.涂层厚度测量.菲索(Fizeau)多光束干涉测量法 (ISO 3868:1976); 德文版本 EN ISO 3868:1994

DIN EN 3032-1994航空航天.干膜润滑的试验方法.厚度测量

DIN 50455-1-1991半导体工艺材料的检验.表示光致抗蚀剂特性的方法.第1部分:用光学测量法对涂层厚度的测定

DIN 50988-2-1988涂层厚度测量.用涂层材料溶解作用测量铁素体材料上涂层的单位面积锌和锡的重量.容量分析法

DIN 50933-1987涂层厚度测量.使用触针仪器以差动测量法测量涂层厚度

DIN 50154-1980对厚度在0.179mm以下的铝和锻造铝合金薄片材和带材进行不用伸长计测量的拉力试验

DIN 50437-1979半导体无机材料的试验.用红外线干涉法测量硅外延生长层的的厚度

DIN 50986-1979涂层厚度的测量.测

温馨提示：以上内容仅供参考，更多检测相关信息请咨询官方客服。