
一、检测标准
基础标准:
GB/T 30544-2014《纳米材料术语》(定义稀土纳米颗粒检测术语)
GB/T 29024.1-2012《粒度分析 词汇 第 1 部分:通用术语》
方法标准:
ISO 13321-1996《粒度分析 光子相关光谱法》
GB/T 19627-2005《粒度分析 光子相关光谱法》
二、检测范围
材料类型:稀土纳米氧化物(CeO₂、La₂O₃)、稀土量子点、纳米稀土合金
应用场景:生物医学成像、催化剂载体、电子浆料
三、检测项目
分散性能:
Zeta 电位(绝对值≥30mV,稳定性优)
粒径分布(D50=10-50nm,多分散指数 PDI≤0.2)
结构性能:
晶型(XRD 分析,如 CeO₂为面心立方结构)
比表面积(BET 法≥50m²/g)
稳定性:
团聚率(超声分散后≤5%,TEM 观察)
四、检测方法
动态光散射仪(Malvern Zetasizer Nano ZS):测粒径与 Zeta 电位
透射电镜(TEM):直接观察颗粒形貌与分散状态
X 射线衍射仪:分析晶体结构,计算晶粒尺寸
五、百检优势
配备超纯水分散系统,避免杂质干扰,检测精度达 ±2%
支持多种分散介质(水、乙醇、有机溶剂)测试,费用比单实验室低 22%

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