一、检测范围

涵盖铝土矿伴生镓精矿(Ga≥0.01%)、锌矿提镓精矿(Ga≥0.05%)，重点针对半导体用原料(Si≤0.001%)和 LED 材料(Fe≤0.0005%)。

二、检测标准

主成分：YS/T 360.1-2011《镓精矿化学分析方法 镓量测定》(罗丹明 B 光度法)。

杂质：YS/T 360.3-2011 测定硅含量，YS/T 360.4-2011 测定铁含量。

物理指标：YS/T 521.7-2019 控制水分(≤5%)、粒度(-200 目占比≥85%)。

三、检测项目

主成分分析

镓（Ga）：罗丹明 B 光度法，精度 ±0.001%，一级品要求≥0.08%。

铝（Al）：EDTA 滴定法，≤10%(避免半导体结电容异常)。

锌（Zn）：原子吸收光谱法，≤5%(防止电极腐蚀)。

有害杂质

硅（Si）：钼蓝分光光度法，半导体用矿需≤0.0005%。

铜（Cu）：原子吸收法，≤0.001%(影响器件寿命)。

汞（Hg）：冷原子吸收法，≤0.00001%(环保要求)。

物理性能

粒度分布：激光粒度仪，确保萃取效率。

密度：比重瓶法，典型值 3.2-3.5g/cm³。

四、检测方法

镓含量：光度法适合常规检测，ICP-MS 法适合超痕量分析。

基体分离：TBP 萃取分离铝、锌等基体，提高检测精度。

物相分析：XRD 鉴别镓矿物相，指导浸出工艺参数。

百检优势

合作实验室配备半导体级检测设备，周期 3 个工作日，费用较行业低 20%。提供超高纯镓提纯方案，满足芯片级原料要求。

温馨提示：以上内容仅供参考，更多检测相关信息请咨询官方客服。