检测范围包括半导体用高纯石墨(碳≥99.999%)、核反应堆用石墨、电池负极材料用石墨及石墨制品(如坩埚、电极)。

检测标准：

GB/T 3518-2008《高纯石墨》

ASTM C781-18《人造石墨材料化学分析标准试验方法》

SEMI F76-12《半导体制造用石墨材料规范》

ISO 17025:2017《检测和校准实验室能力通用要求》

检测项目：

纯度指标：总碳含量、灰分、挥发分、水分

杂质元素：钠、钾、铁、钙、镁、硅等微量元素

物理性能：电阻率、热膨胀系数、密度、抗压强度

结构特性：石墨化度、晶体层间距(d002)

检测方法：

纯度指标：

高频红外碳硫仪：测总碳含量，误差 ±0.001%

马弗炉灼烧法：按 GB/T 3518-2008 测灰分(≤0.1%)

杂质元素：

电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)：检测微量元素，检出限 0.001ppm

物理性能：

四探针法：测电阻率(<10μΩ・m)

热膨胀仪：测热膨胀系数，精度 ±1×10⁻⁷/℃

结构特性：

X 射线衍射仪(XRD)：计算石墨化度(≥95%)，层间距误差≤0.001nm

百检优势：百检合作实验室具备 CMA/CNAS 资质，可检测多领域高纯石墨，支持定制项目，检测费用合理，周期 2-4 工作日。

温馨提示：以上内容仅供参考，更多检测相关信息请咨询官方客服。