电子元件高温老化检测 - 寿命与性能测试机构

检测知识 百检检测 2025-10-29

电子元件在高温下易出现绝缘劣化、性能衰减,如 PCB 板烧毁、连接器失效。上海百检高温老化测试可规避风险。

一、检测范围

PCB 电路板、连接器、电容、电阻、继电器、电子封装材料、汽车电子元件等。

二、核心检测标准
  • 国内:GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分:试验方法 试验 B:高温》

  • 国际:IEC 60068-2-2:2007《环境试验 第 2-2 部分:试验 试验 B:干热》

三、关键检测项目
  1. 热稳定性:氧化诱导期、热膨胀系数;

  2. 电气性能:介电强度、体积电阻率变化;

  3. 力学性能:粘接强度保留率、抗冲击衰减率。

四、检测方法

样品置于高温试验箱,50-200℃下暴露 100-1000 小时,定期监测性能参数;用红外光谱分析分子结构变化。

五、检测作用
  1. 筛选不合格元件,降低产品故障率;

  2. 预测元件使用寿命,优化产品设计;

  3. 满足电子行业可靠性认证要求。

六、百检优势

配备可编程高温箱,控温精度 ±1℃;工程师可结合使用场景定制老化周期,提供失效机理分析。


温馨提示:以上内容仅供参考,更多检测相关信息请咨询官方客服。

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