间歇寿命试验什么单位可以做?检测项目及标准有哪些?费用是多少?百检检测可根据DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程等相关标准制定试验方案。对样品检测的间歇寿命试验等项目进行检测分析。并出具严谨公正的按钮寿命试验报告。

检测项目

间歇寿命试验等。

适用范围

PCB、电容、电阻、电感器件、电声器件、磁材料及器件、电接插元件等。

相关检测标准

DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程

GB/T 15651.4-2017 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双*晶体管(IGBT)

GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二*管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范

GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件

GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范

GB/T 13150-2005 半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三*晶闸管空白详细规范

GB/T 13151-2005 半导体器件 分立器件 第6部分;晶闸管 第三篇 电流大于100A、环境和管壳额定的反向阻断三*晶闸管空白详细规范

GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分;光电子器件基本额定值和特性

GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件检测方法

GB/T 6589-2002 半导体器件 分立器件 第3-2部分;信号(包括开关)和调整二*管电压调整二*管和电压基准二*管(不包括温度补偿精密基准二*管)空白详细规范

GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法

检测报告注意事项

1、报告无“研究检测专用章”或公章无效，报告无防伪二维码无效;

2、复制报告未重新加盖“研究检测专用章”或公章无效;

3、报告无主检、审核、批准人签字无效;

4、报告涂改无效;

5、对检测报告若有异议，应于收到报告之日起十五日内提出，逾期不予受理;

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