半导体集成电路时基电路检测检验哪些项目?检测标准是什么?我们严格按照标准进行检测和评估,确保检测结果的准确性和可靠性。同时,我们还根据客户的需求,提供个性化的检测方案和报告,帮助厂家更好地了解产品质量和性能。
检测项目(参考):
复位触发电流IR、阈值电压VT、阈值电流IT、静态电源电流I+、复位电压、复位电流、触发电压、触发电流、阈值电压、阈值电流、静态电源电流、复位电压VR、复位电流IR、控制端电压VC、触发电压VTR、触发电流ITR、阈值电压VTR、阈值电流IT、静态电源电流I+、控制端电压、电源电流、复位电压VR、复位电流IR、控制端电压VC、触发电压VTR、触发电流ITR、输出低电平电压VOL、输出高电平电压VOH、阈值电压VT、阈值电流IT、静态电源电流I+、输出低电平电压、输出高电平电压、复位电压VR、复位电流IR、控制端电压VC、触发电压VTR、触发电流ITR、输出低电平电压VOL、输出高电平电压VOH
检测标准一览:
1、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
2、GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1
3、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇第2节 1
4、GB/T 14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92
5、GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》 GB/T 14030-1992
6、GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.2
7、GB/T14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1
8、GB/T 14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1
9、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
10、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 方法37
检测时间周期
一般3-10个工作日(特殊样品除外),具体请咨询客服。
检测报告用途
商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。
如果您对产品品质和安全性能有严格要求,不妨考虑选择我们的检测服务。让我们助您一臂之力,共创美好未来。
温馨提示:以上内容仅供参考,更多检测相关信息请咨询官方客服。