紫外常数检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照紫外常数检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及紫外 常数的标准有80条。

国际标准分类中，紫外 常数涉及到地质学、气象学、水文学、电灯及有关装置、光学和光学测量、核能工程、纺织产品、犯罪行为防范、摄影技术、计量学和测量综合、石油产品综合、金属材料试验、电工和电子试验、分析化学、集成电路、微电子学、润滑剂、工业油及相关产品、化工产品、辐射测量、词汇。

在中国标准分类中，紫外 常数涉及到气象学、电光源产品、通用核仪器、犯罪鉴定技术、感光材料基础标准与通用方法、其他纺织制品、有机化工原料综合、石油产品综合、金属物理性能试验方法、、半导体集成电路、润滑油、计算机应用、微电路综合、化妆品、数据媒体。

行业标准-气象，关于紫外 常数的标准

QX/T 87-2008紫外线指数预报

行业标准-轻工，关于紫外 常数的标准

QB/T 2989-2008紫外线高压汞灯紫外辐照度及电参数测量方法

QB/T 3582-1999紫外线高压汞灯管 紫外辐照度及电参数测量方法

国家质检总局，关于紫外 常数的标准

GB/T 21005-2007紫外红斑效应参照谱、标准红斑剂量和紫外指数

GB/T 30654-2014Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于紫外 常数的标准

GB/T 36744-2018紫外线指数预报方法

行业标准-核工业，关于紫外 常数的标准

EJ/T 579-1991紫外盖革—弥勒计数管

韩国科技标准局，关于紫外 常数的标准

KS K 0850-2014纺织品紫外线防护率和紫外线防护系数的测试方法

KS K 0850-2009纺织品防紫外光率及防护系数试验法

KS K 0850-2019纺织品的紫外线阻断和防晒系数的测试方法

行业标准-公共安全标准，关于紫外 常数的标准

GA/T 1669-2019法庭科学 紫外、红外数码照相机技术要求

GA/T 951-2011紫外观察照相系统数码拍照规则

GA/T951-2011紫外观察照相系统数码拍照规则

国家*用标准-总装备部，关于紫外 常数的标准

GJB 7361-2011*用紫外探测器参数测试方法

GJB 8127-2013紫外焦平面探测器参数测试方法

行业标准-化工，关于紫外 常数的标准

HG/T 4577-2014数字化喷墨印刷紫外光固化油墨

RU-GOST R，关于紫外 常数的标准

GOST R 8.627-2007国家测量统一性保证体系.紫外辐射漫透射率和正常透射率的系数测量.测量方法

国际照明委员会，关于紫外 常数的标准

CIE S 013/E-2003国际标准.全球太阳能公司紫外线指数

AR-IRAM，关于紫外 常数的标准

IRAM 3-1946*常用的数量符号（除电气符号外）

NL-NEN，关于紫外 常数的标准

NEN 6306-1990动植物油脂．在紫外光谱消光系数的测定

NEN-EN 170-1992眼睛保护．紫外线滤光镜．透光因数和推荐的使用方法

行业标准-石油化工，关于紫外 常数的标准

SH/T 1498.7-1997尼龙66盐UV指数的测定 紫外分光光度法

行业标准-能源，关于紫外 常数的标准

NB/SH/T 0415-2013石油产品紫外吸光度和吸光系数测定法

中国团体标准，关于紫外 常数的标准

T/ZSA 39-2020石墨烯测试方法 功函数的测定 紫外光电子能谱法

T/ZGIA 002-2020石墨烯测试方法 功函数的测定 紫外光电子能谱法

美国材料与试验协会，关于紫外 常数的标准

ASTM D2008-91(1996)e1石油产品紫外线吸收率和吸收系数的标准试验方法

ASTM D2008-91(2001)石油产品紫外线吸收率和吸收系数的标准试验方法

ASTM D2008-85石油产品紫外线吸收率和吸收系数的标准试验方法

ASTM D2008-91(2006)石油产品紫外线吸收率和吸收系数的标准试验方法

ASTM D2008-12石油产品紫外线吸收率和吸收系数的标准试验方法

ASTM D2008-09石油产品紫外线吸收率和吸收系数的标准试验方法

ASTM G222-21作为位置函数的现场暴露产品接收的紫外线辐射的估计的标准实施规程

美国国防后勤局，关于紫外 常数的标准

DLA SMD-5962-89476 REV A-2011微电路、存储器、数字、CMOS、紫外可擦除可编程逻辑器件、单片硅

DLA SMD-5962-85135 REV B-1988硅单块 紫外扩展可编程序只读存储器,64KX8比特数字微型电路

DLA SMD-5962-91545 REV F-2007CMOS数字微电路存储器,紫外光可消除可编程逻辑阵列,单片硅

DLA SMD-5962-86864 REV A-2010微电路、存储器、数字、CMOS、紫外线可擦除、可编程逻辑阵列、单片硅

DLA MIL-M-38510/507 B VALID NOTICE 1-2010微电路、存储器、数字、CMOS 紫外线可擦除可编程阵列逻辑、单片硅

DLA SMD-5962-89469 REV C-2011微电路、存储器、数字、CMOS 紫外线可擦除可编程逻辑器件、单片硅

DLA SMD-5962-91584 REV A-2012微电路、存储器、数字、CMOS 紫外线可擦除可编程逻辑阵列、单片硅

DLA SMD-5962-91772 REV A-2012微电路、存储器、数字、CMOS 紫外线可擦除可编程逻辑阵列、单片硅

DLA SMD-5962-88726 REV F-2010微电路、存储器、数字、CMOS、紫外线可擦除、可编程逻辑阵列、单片硅

DLA SMD-5962-88635 REV A-1993紫外线擦除可编程逻辑器件互补型金属氧化物半导体数字微电路

DLA SMD-5962-87515 REV B-2006硅单块 8KX8紫外,电可擦可编程序只读存储器数字主存储器微型电路

DLA SMD-5962-89537 REV B-2006硅单片16K X 8紫外线可擦除可编程序只读存储器数字存储微电路

DLA SMD-5962-90754 REV B-2012微电路、存储器、数字、CMOS 紫外线可擦除异步寄存可编程逻辑阵列、单片硅

DLA SMD-5962-88680-1991硅单片2K X 8断电紫外线电可擦可编程序只读存储器数字存储微电路

DLA MIL-M-38510/224 VALID NOTICE 4-2010微电路、存储器、数字、MOS、32K X 8、紫外线可擦除可编程只读存储器（EPROM）单片硅

DLA SMD-5962-94510 REV A-2007硅单片,紫外线可擦除可程序化逻辑阵列,氧化物半导体数字记忆微型电路

DLA SMD-5962-88549 REV A-1992硅单片互补型金属氧化物半导体紫外线擦除可编程逻辑器件数字微电路

DLA SMD-5962-93144 REV B-2007硅单片,紫外线可消除可程序化逻辑设置,氧化物半导体数字记忆微型电路

DLA SMD-5962-85135 REV C-2009微电路、存储器、数字、NMOS、64K x 8 位紫外线可擦除可编程只读存储器（UVEPROM）、单片硅

DLA SMD-5962-90989 REV A-2006硅单块 互补金属氧化物半导体紫外可编程逻辑阵列,数字主储存器微型电路

DLA SMD-5962-87661 REV F-2006硅单块 16K X8比特紫外线消除式可程序化只读存储器,数字主存储器微型电路

DLA SMD-5962-91772-1993硅单块 互补金属氧化物半导体,紫外可擦拭逻辑阵列,数字主储存器微型电路

DLA SMD-5962-93248-1993硅单片,电压紫外线可擦除可编程逻辑阵列,氧化物半导体数字记忆微型电路

DLA SMD-5962-87744 REV A-2010微电路、存储器、数字、NMOS、64K X 16 位（1M）紫外线可擦除可编程只读存储器（UVEPROM）、单片硅

DLA SMD-5962-88548 REV A-1992硅单片互补型金属氧化物半导体紫外线擦除可编程逻辑器件数字存储微电路

DLA SMD-5962-88678 REV B-2005硅单片紫外线擦除可编程逻辑阵列互补型金属氧化物半导体数字存储微电路

DLA SMD-5962-88724 REV D-2007硅单片可编程逻辑阵列互补型金属氧化物半导体紫外线擦除数字存储微电路

DLA SMD-5962-88726 REV E-2007硅单片可编程逻辑阵列互补型金属氧化物半导体紫外线擦除数字存储微电路

DLA SMD-5962-85102 REV E-2005硅单块 8KX8紫外可擦除可程序化只读存储器,氧化物半导体数字主储存器微型电路

DLA SMD-5962-91584-1992硅单块 紫外可擦拭编程逻辑阵列,互补金属氧化物半导体,数字主储存器微型电路

DLA SMD-5962-92062 REV B-2007硅单块 紫外擦拭可编程逻辑设备,互补金属氧化物半导体,数字主储存器微型电路

DLA SMD-5962-89468 REV C-2007硅单片紫外线擦写的可编程逻辑阵列互补型金属氧化物半导体数字存储微电路

DLA SMD-5962-89469 REV B-1994硅单片紫外线擦写的可编程逻辑设备互补型金属氧化物半导体数字存储微电路

DLA SMD-5962-89476-1992硅单片紫外线擦写的可编程逻辑设备互补型金属氧化物半导体数字存储微电路

DLA SMD-5962-93245-1993硅单片,扩展电压紫外线可擦除可编程逻辑阵列,氧化物半导体数字记忆微型电路

DLA SMD-5962-89817 REV C-2007硅单片,32K X 8紫外线消除式可程序化只读存储器,氧化物半导体数字记忆微型电路

DLA SMD-5962-92322-1993硅单片,64K X 8位紫外线消除式可程序化只读存储器的快速存取,数字记忆微型电路

DLA SMD-5962-90658 REV A-2006硅单片,4K X 8紫外线消除式可程序化只读存储器,氧化物半导体数字记忆微型电路

DLA SMD-5962-86063 REV H-2006硅单块 144比特(32KX8)紫外可擦拭程序262互补金属氧化物半导体,数字主存储器微型电路

欧洲标准化委员会，关于紫外 常数的标准

ISO/DIS 3656:2000动植物脂肪和油.用 UV 消光系数表示的紫外线吸收率的测定

EN 14255-4:2006个人暴露于非相干光辐射的测量和评估 第4部分：用于紫外线、可见光和红外线暴露测量的术语和数量

法国标准化协会，关于紫外 常数的标准

NF T60-607:1998石油和润滑剂产品 轿跑车中提取的 DMSO 吸收紫外线指数的测定

NF EN 14255-4:2006人体暴露于不相干光辐射的测量和评估 - 第 4 部分：用于测量紫外线、可见光和红外辐射暴露的术语和数量

德国标准化学会，关于紫外 常数的标准

DIN 67502:2005通过测量与防晒指数有关的透射率表征皮肤防晒品的防紫外线特性

DIN EN 14255-4:2007-02个人暴露于不相干光辐射的测量和评估 第4部分：紫外线、可见光和红外线暴露测量中使用的术语和数量

丹麦标准化协会，关于紫外 常数的标准

DS/EN 14255-4:2007个人暴露于非相干光辐射的测量和评估 第4部分：用于紫外线、可见光和红外线暴露测量的术语和数量

立陶宛标准局，关于紫外 常数的标准

LST EN 14255-4-2007个人暴露于非相干光辐射的测量和评估 第4部分：用于紫外线、可见光和红外线暴露测量的术语和数量

AENOR，关于紫外 常数的标准

UNE-EN 14255-4:2007个人暴露于非相干光辐射的测量和评估 第4部分：用于紫外线、可见光和红外线暴露测量的术语和数量

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