集成电路检测项目

封装检测，高低温检测，可靠性检测，弯扭检测，低功耗检测，盐雾检测，晶圆检测，固晶推力检测，接口插拔力检测，引脚检测，泄漏电流检测，气密性检测，第三方检测，绝缘强度检测，电磁兼容检测等。

集成电路检测标准

GB/T 2900.66-2004电工术语 半导体器件和集成电路

GB/T 3430-1989半导体集成电路型号命名方法

GB/T 3431.2-1986半导体集成电路文字符号 引出端功能符号

GB/T 3436-1996半导体集成电路运算放大器系列和品种

GB/T 4023-2015半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二*管

GB/T 4376-1994半导体集成电路 电压调整器系列和品种

GB/T 4377-2018半导体集成电路 电压调整器检测方法

GB/T 4587-1994半导体分立器件和集成电路 第7部分:双*型晶体管

GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

GB/T 6798-1996半导体集成电路 电压比较器检测方法的基本原理

GB/T 9178-1988集成电路术语

GB/T 12842-1991膜集成电路和混合膜集成电路术语

GB/T 14028-2018半导体集成电路 模拟开关检测方法

GB/T 14029-1992半导体集成电路模拟乘法器检测方法的基本原理

GB/T 14030-1992半导体集成电路时基电路检测方法的基本原理

GB/T 14031-1992半导体集成电路模拟锁相环检测方法的基本原理

GB/T 14113-1993半导体集成电路封装术语

GB/T 14619-2013厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14620-2013薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14862-1993半导体集成电路封装结到外壳热阻检测方法

GB/T 15136-1994半导体集成电路石英钟表电路检测方法的基本原理

GB/T 15651.2-2003半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性

集成电路检测报告

报告类型：电子报告、纸质报告(中文报告、英文报告、中英文报告)。

检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

集成电路检测费用

因检测项目以及实验复杂程度不同，需联系工程师确定后进行报价。

集成电路检测周期

检测时间：一般3-10个工作日（特殊样品除外）。有的项目可加急1.5天出报告。

集成电路检测流程

百检优势

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更便捷；

4、免费初检，初检不收取检测费用；

5、周期短，费用低，快递免费上门取样；

6、检测报告CMA、CNAS、CAL等资质；全国通用。

温馨提示：以上内容仅供参考，更多检测相关信息请咨询公司官方客服。