电灵敏度检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照电灵敏度检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及电灵敏度的标准有32条。

国际标准分类中，电灵敏度涉及到半导体分立器件、光电子学、激光设备、电学、磁学、电和磁的测量、电气工程综合、电击防护。

在中国标准分类中，电灵敏度涉及到半导体分立器件综合、物理学与力学、基础标准与通用方法。

ESD - ESD ASSOCIATION，关于电灵敏度的标准

TR5.4-04-2013静电放电灵敏度测试瞬态闩锁测试

ESD DS5.3:1993带电器件模型（CDM）静电放电灵敏度测试

S5.3.1-2009静电放电灵敏度测试“带电器件模型（CDM）”“元件级”

JS-002-2014静电放电灵敏度测试 带电器件模型（CDM） 器件级

STM 5.3.1-1999静电放电灵敏度测试带电器件模型（cdm）组件级别

STM5.5.1-2008静电放电灵敏度测试 传输线脉冲（TLP） 组件级别

STM5.5.1-2014静电放电灵敏度测试 传输线脉冲（TLP） 组件级别

STM5.5.1-2016静电放电灵敏度测试 传输线脉冲（TLP） 设备级别

ESD DS5.3.1:2007静电放电灵敏度测试标准 带电器件模型（CDM） 组件级别

TR5.5-04-2018静电放电灵敏度测试传输线脉冲（TLP） 用户和应用指南

SP5.5.2-2007静电放电灵敏度测试 超快速传输线脉冲（VF-TLP） 元件级

TR5.5-03-2014静电放电灵敏度测试 超快速传输线脉冲（VF-TLP） 循环分析

TR5.4-03-2011静电放电灵敏度测试 CMOS/BiCMOS 集成电路的闩锁灵敏度测试 瞬态闩锁测试 组件级电源瞬态激励

TR5.3.1-01-2018静电放电灵敏度测试接触带电器件模型（CCDM）与场感应 CDM（FICDM）的案例研究

SP5.2.2-2012静电放电灵敏度测试机型号（MM）替代测试方法：拆分信号引脚元件级

SP5.3.3-2018静电放电灵敏度测试带电器件模型（CDM）测试“组件级低阻抗接触 CDM 作为替代 CDM 表征方法

美国静电协会，关于电灵敏度的标准

ANSI/ESD STM5.5.1-2008静电放电灵敏度测试传输线脉冲（TLP） 元件级

ANSI/ESD SP5.5.2-2007静电放电灵敏度测试超快传输线脉冲（VF-TLP） 元件级

英国标准学会，关于电灵敏度的标准

BS IEC 62615:2010静电放电灵敏度测试 传输线脉冲 (TLP) 组件级别

BS EN 60749-28:2017半导体器件. 机械和气候试验方法. 静电放电(ESD)灵敏度试验. 带电器件模型(CDM). 器件级

美国国家标准学会，关于电灵敏度的标准

ANSI/ESD SP14.5-2021静电放电灵敏度测试近场抗扰度扫描元器件/模块/PCB级

ANSI/ESD STM11.12-2000静电放电敏感的灵敏度试验防护试验方法.静态分散平面材料体电阻测量

韩国科技标准局，关于电灵敏度的标准

KS C IEC PAS 62179-2003(2008)静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型

KS C IEC PAS 62180-2003(2008)静电放电（ESD）灵敏度试验机型号（MM）

RU-GOST R，关于电灵敏度的标准

GOST 21316.4-1975光电管.灵敏度不均匀性测量方法

GOST 21316.1-1975光电管.光灵敏度测量方法

GOST R 53734.3.3-2016静电放电敏感的灵敏度试验防护试验方法. 带电器件模型 (CDM)

GOST 19656.7-1974超高频检波半导体二极管.电流灵敏度测量方法

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于电灵敏度的标准

JEDEC JESD22-A115C-2010静电放电（ESD）灵敏度测试，机器模型（MM）

JEDEC JESD22-A115B-2010静电放电（ESD）灵敏度测试，机器模型（MM）

JEDEC JS-001-2010静电放电灵敏度测试人体模型（HBM） 组件级 [已取代：JEDEC JESD22-A114F、JEDEC JESD22-A114E、JEDEC JESD22-A114D、JEDEC JESD22-A114C.01、JEDEC JESD22-A114C、JEDEC JESD22-A114-B、杰德克 JESD22-A114-A, 杰德克 JESD

国际电工委员会，关于电灵敏度的标准

IEC 60749-27:2003半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电灵敏度测试.机器模型

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