标准编号：GB/T 23413-2009纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

标准状态：现行

标准简介：本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。

英文名称： Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method

中标分类： 仪器、仪表>>试验机与无损探伤仪器>>N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器

ICS分类： 试验>>19.100无损检测

发布部门： 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会

发布日期： 2009-04-01

实施日期： 2009-12-01

首发日期： 2009-04-01

提出单位： 全国微束标准化技术委员会

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