标准简介：本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片，片状件用氧化铝陶瓷基片亦可参照使用。

标准号：GB/T 14619-1993

标准名称：厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

英文名称：Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：1993-09-03

实施日期：1993-01-02

中国标准分类号（CCS）：>>>>L32

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.200集成电路、微电子学

替代以下标准：被GB/T 14619-2013代替

起草单位：国营七九九厂

归口单位：信息产业部（电子）

发布单位：国家技术监督局

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