标准号：GB 6801-1986

标准名称：半导体器件基准测试方法

标准类型：国家标准

标准性质：强制性

标准状态：作废

实施日期：1987-07-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合

替代以下标准：被GB/T 4587-1994代替

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