射频链路的损耗，往往不是某个器件坏了，而是每个接头各贡献一点。连接器在低频看只是导通，在GHz看是反射与衰减的叠加。检测要回答两个问题：反射回来多少，传过去多少。

检测范围：50Ω与75Ω接口、连接器与组件

• 50Ω接口：SMA、SMB、SMC、N型、BNC、TNC、MCX、1.0/2.3，以及2.92mm、2.4mm、1.85mm等毫米波接口。

• 75Ω接口：F型、BNC-75、1.6/5.6等，多用于有线电视与视频传输。

• 结构形式：插头、插座、法兰盘与面板安装、PCB端接、电缆端接、转接器。

• 组件形态：连接器与电缆装配后的射频电缆组件。

边界上需区分连接器本体与电缆组件。本体测试只考核接口与接触件；组件测试的插入损耗包含电缆衰减，报告应把连接器贡献与电缆贡献分开，否则同一批连接器换电缆后数据不可比。波导器件、天线与衰减器等无源件按各自产品标准，不在本文范围。

标准依据：总规范、分规范与电气试验方法

• 总规范：GB/T 11313.1-2013《射频连接器 第1部分：总规范 一般要求和试验方法》，等同采用IEC 61169-1:1998，适用于通信、电子设备及类似设备中射频传输线用的连接器，规定通用要求与测量方法。该标准2021年复审结论为修订，修订项目已在审查流程中，委托前应确认是否已发布新版。

• 分规范：GB/T 11313.10-2012为SMB系列分规范；GB/T 11313.29-2015覆盖1.0/2.3型50Ω与75Ω小型射频同轴连接器。分规范给出具体接口尺寸、等级与限值。

• 电气试验方法：GB/T 11313.201-2018规定反射系数和电压驻波比的测量；GB/T 11313.202-2018规定插入损耗的测量；GB/T 11313.106-2026覆盖射频功率试验方法，实施日期为2027-03-01，现阶段引用需注意生效时间。

• 屏蔽与串扰：GB/T 5095.2303-2021为屏蔽效果线注入法；GB/T 5095.2307-2021为连接器的有效转移阻抗；GB/T 5095.2501-2021为串扰比。

• 电缆与基础：GB/T 17737系列同轴通信电缆标准；接口尺寸以分规范或详细规范图样为准。

三层的用法是：总规范给框架与通用方法，分规范给接口与限值，电气试验方法给具体测量程序。只引用总规范而不引用分规范，通常无法形成可判定的结论。

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