标准简介：本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。

标准号：GB 5594.8-1985

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Determination of microstructure

标准类型：国家标准

标准性质：强制性

标准状态：作废

发布日期：1985-01-01

实施日期：1986-01-02

中国标准分类号（CCS）：>>>>L32

国际标准分类号（ICS）：31.030

替代以下标准：被GB/T 5594.8-2015代替

起草单位：上海科技大学

归口单位：信息产业部（电子）

发布单位：国家标准局

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