一、检测背景与意义

RoHS指令对电子电气产品中铅、汞、镉、六价铬等有害物质设定了严格限值。随着RoHS 2.0将管控范围扩展至更多物质类别，电子电气产品中有害元素的检测需求持续增长。开展电子电气产品元素分析检测，是企业确保产品合规、进入目标市场的基础工作。

二、检测范围

电子电气产品元素分析的检测对象包括：

• 电子元器件：电阻、电容、集成电路等

• 印刷电路板（PCB） ：刚性板、柔性板

• 焊料及焊接材料：锡铅焊料、无铅焊料

• 塑料外壳及部件：ABS、PC等聚合物材料

• 金属镀层：电镀层、化学镀层

• 半导体材料：硅片、碳化硅晶片等

• 高纯化学品：蚀刻液、光刻胶等

三、检测标准

1. 国内标准

• GB/T 39560系列：对应于IEC 62321系列，是国内RoHS检测的核心依据。其中GB/T 39560.9-2024描述了AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中铅、镉和铬的方法

• GB/T 26125-2011：电子电气产品中六种限用物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚）的测定

2. 国际标准

• IEC 62321系列：RoHS检测的方法标准体系，规定了铅、汞、镉、六价铬等物质的测定方法。其中IEC 62321-5:2013适用于金属材料，IEC 62321-7-2:2017用于六价铬的定量分析

四、检测项目

RoHS指令涉及的限用元素检测项目包括：

此外，GB/T 39560.9-2024规定，当样品中总铬含量超过六价铬限量时，应进行六价铬的确证检测。

五、检测方法

1. 电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）

适用于电子电气产品中铅、镉、铬含量高于10 mg/kg的样品测定，可获得良好的准确度和精密度。

2. 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）

适用于铅、镉等元素的痕量分析，ICP-MS法测定高于0.1 mg/kg的Pb、Cd时可获得较好的检测效果。

3. 原子吸收光谱法（AAS）

适用于高浓度铅、镉、铬的测定，常配合适当的样品前处理方法使用。

4. 原子荧光光谱法（AFS）

可用于铅、镉的测定，但需注意硫酸和氢氟酸可能干扰镉的还原，不适合用于AFS法测定镉。

5. X射线荧光光谱法（XRF）

适用于电子电气产品的快速筛查，可对铅、汞、镉、总铬和总溴等元素进行无损或半定量分析。

六、小结

电子电气产品中限用元素检测是RoHS合规的核心环节。检测方需根据样品基质选择适宜的分析方法和前处理方案。上海百检检测中心可提供电子电气产品中限用元素的分析检测服务，出具CMA/CNAS资质检测报告。

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