一、检测背景与意义

贵金属（金、银、铂、钯等）因其特殊的物理化学性质和较高的经济价值，在首饰制造、电子工业、催化剂等领域有广泛应用。准确测定贵金属制品中主元素含量和杂质元素种类，是保障产品质量和市场秩序的重要技术手段。

二、检测范围

贵金属元素分析的检测对象包括：

• 贵金属首饰：金首饰、银首饰、铂首饰、钯首饰

• 贵金属合金：金合金、银合金、铂合金、钯合金

• 贵金属原料：金锭、银锭、铂锭、钯锭

• 贵金属制品：金币、纪念币、贵金属器皿

• 工业贵金属材料：贵金属催化剂、电子浆料、靶材

三、检测标准

• T/CNIA 0247-2024：贵金属首饰金、银、铂、钯含量的测定 辉光放电质谱法（差减法）

• ASTM E1834-18：镍基合金分析（可用于贵金属合金元素分析参考）

• GB/T 43603.2-2024：镍铂靶材合金化学分析方法 第2部分——电感耦合等离子体质谱法测定镁、铝、钛、钒、铬、锰、铁、钴、铜、锌、锆、银、钯、锡、钐、铅、硅含量

四、检测项目

五、检测方法

1. 火试金法

火试金法是贵金属分析的传统经典方法，包括铅试金、镍锍试金、锑-铜试金、锡试金等。该方法通过高温熔融将贵金属富集于金属铅或其他捕集剂中，再经灰吹等步骤分离，最终实现贵金属的准确测定。适用于矿石、合金、首饰等多种基体样品中贵金属元素的测定。

2. 电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-OES）

适用于贵金属合金中多元素的同时测定，可对金、银、铂、钯等主元素及铜、铁、镍等杂质元素进行定量分析。

3. 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）

适用于贵金属中痕量杂质元素的测定，灵敏度可达ppb级，适用于高纯贵金属产品的杂质控制。

4. 辉光放电质谱法（GD-MS）

依据T/CNIA 0247-2024，通过辉光放电离子源将样品表面原子剥离并离子化，采用差减法计算基体元素金、银、铂、钯的含量，适用于高含量贵金属首饰的纯度测定。

5. X射线荧光光谱法（XRF）

适用于贵金属首饰的快速无损筛查，可对金、银、铂、钯等元素进行半定量至定量分析，常用于现场快速检测。

六、小结

贵金属元素分析检测需要根据样品类型、含量范围和检测目的选择适宜的方法。火试金法适用于高含量贵金属的准确测定，ICP-OES和ICP-MS适用于多元素及痕量杂质分析，XRF法则适用于快速筛查场景。上海百检检测中心可提供贵金属及首饰制品的元素分析检测服务。

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